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WDW-J10/20/50/100/200/300电子试验机
面议WDW-002/005/01/02/05/1/2/5微机控制电子试验机
面议时代LS72-U(V)手动单刀冲击试样缺口拉床
面议时代JB—W500A微机控制摆锤式冲击试验机
面议时代JB—W300A微机控制摆锤式冲击试验机
面议WDW-10/20/50微机控制电子试验机
面议WDW-J002/005/01/02/05/1/2/5电子式试验机
面议时代L71-UV冲击试样缺口电动拉床
面议时代L72-UV电动夏比冲击试样缺口拉床
面议时代XT-50冲击试样缺口投影仪
面议时代JB-S300A数显摆锤式冲击试验机
面议时代DWY-60A冲击试样低温槽
面议 测头型号 | F400 | F1 | F1/90° | F5 | F10 | ||||
工作原理 | 磁 感 应 | ||||||||
测量范围(um) | 0~400 | 0~1250 | 0~5000 | 0~10000 | |||||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | |||||
示值 误差 | 一点校准(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+5) | ±(3%H+10) | |||||
二点校准(um) | ±((1~3)%H+0.7) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+5) | ±((1~3)%H+10) | |||||
测 试 条 件 | zui小曲率半径(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 5 | 10 | ||
zui小面积的直径(mm) | F3 | F7 | F7 | F20 | F40 | ||||
基体临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 1 | 2 | ||||
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测头型号 | N400 | N1 | N1/90° | CN02 | N10 | |||||
工作原理 | 涡 流 | |||||||||
测量范围(um) | 0~400 | 0~1250 | 10~200 | 0~10000 | ||||||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | ||||||
示 值 误差 | 一点校准(um) | ±(3%H+0.7) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ±(3%H+25) | |||||
二点校准(um) | ±[(1~3%H+0.7) | ±[(1~3)%H+1.5] | ___ | ±((1~3)%H+25) | ||||||
测 试 条 件 | zui小曲率半径(mm) | 凸 | 1.5 | 3 | 平直 | 仅为平直 | 25 | |||
zui小面积的直径(mm) | F4 | F5 | F5 | F7 | F50 | |||||
基体临界厚度(mm) | 0.3 | 0.3 | 0.3 | 无限制 | 5mm铝箔 |