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WDW-J10/20/50/100/200/300电子试验机
面议WDW-002/005/01/02/05/1/2/5微机控制电子试验机
面议时代LS72-U(V)手动单刀冲击试样缺口拉床
面议时代JB—W500A微机控制摆锤式冲击试验机
面议时代JB—W300A微机控制摆锤式冲击试验机
面议WDW-10/20/50微机控制电子试验机
面议WDW-J002/005/01/02/05/1/2/5电子式试验机
面议时代L71-UV冲击试样缺口电动拉床
面议时代L72-UV电动夏比冲击试样缺口拉床
面议时代XT-50冲击试样缺口投影仪
面议时代JB-S300A数显摆锤式冲击试验机
面议时代DWY-60A冲击试样低温槽
面议 测量单位 | 公制,英制 |
测量原理 | 接触法传感器带寻头的电感式传感器,测尖2um((80UIN),测力约0.7MN |
测量参数 | RA,RQ,RZ,RY(JIS),RZ(JIS),RMAX,RP,RP(ASME),RPM(ASME),RPK,RK,RVK,MR1,MR2,A1,A2,VO,RT,R3Z,RPC,RMR,TP(JIS,ASME),RSM,R,AR,RX(24种,自定义公差带范围) |
程序语言 | 14种语言可选择包括3种亚洲语言 |
测量范围 | 350um,180um,90um(自动选择) |
轮廓分辨率 | 32MM,16MM,8MM(自动选择) |
滤波器类型 | 符合DIN EN ISO 11562标准的相修整轮廓滤波器(高斯滤波器) 符合DIN EN ISO 13565-1标准的专用滤波器和符合DIN EN ISO 3274标准的IS滤波器(于程序中能设置其禁用) |
截止波长IC* | 0.25MM,0.8MM,2.5MM;自动选择(0.10IN,0.030IN,0.100IN) |
测量长度LT* | 1.75MM,5.6MM,17.5MM;自动选择(0.069IN,0.22IN,0.69IN) |
测量长度 (按照MOTIF标准) | 1MM,2MM,4MM,8MM,12MM,16MM,(0.040IN,0.080IN,0.160IN,0.320IN,0.480IN,0.640IN) |
短波截止波长* | 可选 |
评定长度IN* | 1.25MM,4.0MM,12.50MM(0.050IN,0.15IN,0.50IN) |
取样长度段数N* | 1至25可选校准功能 |
校准功能 | 动态校准 |
内存容量 | 最多15个外形轮廓,最多20.000个结果数据 |
其它功能 | 模块化设置(源代码保护),日期、时间 |
重量 | 400克(0.88磅) |
尺寸 | 140mm*50mm*70mm |
电池 | 可充电式锂电池 |
接口 | USB,marcommect(RSR232) |
电源范围 | 100V-264V |