德国马尔 MarSurf M 400表面粗糙度仪

MarSurf M 400表面粗糙度仪-*的“便携式粗糙度仪”！ 容易。 快。 创新。 随着无轨跟踪和自动归零设置。 
MarSurf M 400表面粗糙度仪代表家庭从马尔表面测量而同样的进一步发展。 
对于作为一个小的测量站，以及用于为移动单元使用，MarSurf M 400表面粗糙度仪满足车间和在生产和测量室的需要。 
尤其是无轨跟踪与无轨探针BFW 250和驱动单元，SD 26启用不仅粗糙度深度，但也起伏和档案中的标准的测量和评定。 的磁性探针臂保持器允许不同的探针臂不使用工具的情况下，方便地在几秒钟内迅速地改变。 
电动高度调节使零位自动定位和探头升降。 
MarSurf M 400表面粗糙度仪已经知道，蓝牙功能，使电缆与本机操作。 
与主操作由于内置电池可进行zui多250次测量

MarSurf M 400表面粗糙度仪特点

简介决心：波纹度和粗糙度，Profile determination: Primary, waviness and roughness profile 
探头：感应式无轨交换探针插入，测力约为2微米探针武器，跟踪系统。 0.7万（标准） 
标准DIN / ISO / JIS / ASME / MOTIF 
取样长度LT根据DIN EN ISO / JIS： 1.75毫米，5.6毫米，17.5毫米自动， （0.07 INC，0.22，0.7） 
每MOTIF：1毫米，2毫米，4毫米，8毫米，12毫米，16毫米 
评估长度（根据ISO / JIS）1.25毫米，4.0毫米，12.5毫米 
取样长度的个数n（按ISO / JIS）：可选 滤波器和行程长度按标准自动选择 
高斯滤波器（每JIS / DIN），LS过滤器标准DIN / ISO / JIS / ASME / MOTIF 
截止LC（按ISO / JIS）：0.25毫米，0.8毫米，2.5毫米，自动， （0.010，0.032，0.100） 
短截止（按ISO / JIS）选择 
测量速度0.2毫米/秒，1毫米/秒 
轮廓分辨率测量范围：±250微米= 8纳米，±25微米= 0.8纳米 
15种语言，其中3亚洲 
按参数： 
DIN / ISO：RA，RQ，RZ，R​​max的，RP，RV，RPK，RK，RVK MR1，MR2，A1，A2，VO，RT，R3z，RPC，RMR（3X），HSC，RSM，RSK，RDC，RDQ RKN PA，铂，PMR（3倍），PDC， 华，WQ，WT，WSM，WSK， JIS：RA，RZ，R​​zJIS94，SM，S， ASME：RPA，RPM MOTIF：R，AR，RX，W，，WTE，CR，CL，CF， NR，NCRX，NW，CPM 
打印R-轮廓（ISOASME / / JIS），P-轮廓（MOTIF），材料率曲线，结果记录 
日期和/或时间的测量 
内置存储器可存储高达约的结果。 40,000测量和30型材 
动态校准功能 
单位设置保护锁/码数

MarSurf M 400表面粗糙度仪应用

在轴，外壳部件，大型机械 
在汽车工程 
在大型工件 
铣削和车削件上 
在地面和磨练工件上 
在生产现场快速检测的粗糙度深度，波纹度和配置文件中的工件的参数或在机器上的机器上 
可扩展到车间一个小的测量站测量台 
MarSurf M 400表面粗糙度仪供货范围 
MarSurf表面万400套交付在实际的手提箱 - 包括： 评价单元M 400 
驱动单元MarSurf表面SD 26的股票。 探头系统BFW 250 
标准探针臂（6852403） 
1热敏纸卷 
宽范围的AC适配器，3个适配器 
2个USB电缆（连接到PC和电缆用） 
操作说明