芯片测试225L老化评估恒温恒湿试验箱
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SMA-225PF芯片测试225L老化评估恒温恒湿试验箱

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22000 1

具体成交价以合同协议为准
2023-10-11 11:42:02
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东莞市皓天试验设备有限公司

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产品简介

芯片测试225L老化评估恒温恒湿试验箱恒温恒湿试验箱是汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

详细介绍

 

皓天升级版的特点:芯片测试225L老化评估恒温恒湿试验箱

 

恒温恒湿试验箱的满足国标:

符合标准:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008试验A、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.3-2006试验Ca、GB/T2423.4-2008试验Db

 

 

 

恒温恒湿试验箱工作原理:芯片测试225L老化评估恒温恒湿试验箱

恒温恒湿试验箱由调温(加温、制冷)和增湿两部分组成。通过安装在箱体内顶部的旋转风扇,将空气排入箱体实现气体循环、平衡箱体内的温、湿度,由箱体内置的温、湿度传感器采集的数据,传至温、湿度控制器(微型信息处理器)进行编辑处理,下达调温调湿指令,通过空气加热单元、冷凝管以及水槽内加热蒸发单元的共同完成。 

 

控制系统:

1. 采用*品牌温湿度仪表,5.7英寸高清真彩液晶触摸显示屏。

2. 实时监控(监控控制器实时数据,信号点状态,实际输出状态)。

3. 曲线记录功能3.3.1.控制器可存储600天内历史数据(24小时运行状态下,记录间隔1min以上,温湿度数据同时记录时),且可回放上传的控制内历史数据曲线。

4.可通过随机赠送软件将导出来的文件在电脑查看或转成EXCEL格式。

5.仪表配备RS232/485端口。

7.具有自动演算的功能,可将温湿度变化条件立即修正,使温湿度控制更为精确稳定。

 

 

 

 

 ​​

技术参数:

1.温度范围:0℃~150℃

2.湿度范围:20%~98%R.H  

3.温度均匀度:≤±2℃ (空载时)

4.湿度均匀度:+2% -3%R.H

5.温度波动度:≤±0.5℃ (空载时)

6.湿度波动度:±2%

7.温度偏差:≤±2℃

8.湿度偏差:≤±2%

9.降温速率:0.7~1.0℃/min

10.升温速率:1.0~3.0℃/min

11.时间设定范围:0~999 小时

12.电源电压:380V±10%

13.设备总功率:3KW~15KW

 

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