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升降式冷热冲击试验箱
用途:
冷热冲击试验箱为材料研究及工业生产厂家的批量或者电子电器零部件﹑自动化零部件、半成品﹑金属、化学材料、通讯元件、国防工业、 航天、兵工业、BGA、PCB基扳电子芯片、IC、半导体、陶磁及高分子材料或复合材料之物理牲变化提供了温度突变严酷温度环境测试条件,测试其在瞬间经高温、低温的连续温度变化环境下所能忍受的程度,试验其在急遽变化的温差条件下热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害。可作为其产品改进的依据或参考,及产品可靠性的鉴定测试。
TSD-50S-2P技术参数: 型号:TSD-50S-2P 内容积:50L 内型尺寸:W350*H350*D400mm(即提篮尺寸) 外型尺寸:W1650*H1800*D1450mm 高温测试区: 高温室:+60℃→+180℃ 升温时间:升温 +20℃→+180℃ ≤25min 注:升温时间为高温室单独运转时的性能
低温测试区: 温度范围:-60℃~-10℃ 降温时间:降温 +20℃ → -60℃≤65min 注:降温时间为低温室单独运转时的性能
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升降式冷热冲击试验箱
材质:
温度冲击试验箱份两箱式温度冲击试验箱和三箱式温度冲击试验箱。
两箱式温度冲击试验箱整体结构:试验箱由预热室、预冷室、制冷系统、加热系统、风道系统、电器控制系统组成。预冷室位于试验箱后上部,预热室位于试验箱前下部,制冷机给位于试验箱的后下部,电器控制柜位于试验箱右侧。
三箱式温度冲击试验箱整体结构,试样物品*静止。试验箱由预热室、预冷室、工作室、制冷系统、加热系统、风道系统、电器控制系统组成。工作室位于试验箱中部,高温室位于试验箱下部,低温室位于试验箱上部,制冷机系统位于试验箱的后下部,电器控制柜位于试验箱右侧面上部。
温度范围:低温(-40/-55/-65)~高温+100℃
高温冲击范围:+60℃~+100℃
低温冲击范围:0℃~-65℃;
升温时间(蓄热区) :RT~180℃约需35min
降温时间(蓄冷区) :RT~-70℃约需85min
温度恢复时间/转换时间: ≤5min内 / ≤10sec内
温度控制精度/分布精度: ±0.5℃ / ±2.0℃
外部材质:内箱为SUS 304#不锈钢板雾面处理,外箱为冷轧钢喷塑处理或不锈钢
保温材质:耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料
控制器:自主研发AP-5199温度冲击控制系统
通讯功能:USB接口,RS-232接口
压缩机:德国"比泽尔"