主要用途：
冷热冲击测试仪/高低温冲击试验箱主要用于测试材料或复合材料在瞬间下经*温或极低温连续环境下的忍受程度，得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
适用范围：
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁、光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的*的一项测试箱，用于耐高温、耐低温、耐湿热循环检测试验。
结构特点：
根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。
箱体结构:
1、箱体外壁材料：1.2mm拉丝不锈钢板。
2、箱体内壁材料：SUS304#1.2mm不锈钢板。
3、观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃观察窗一个(350X250mm)。观察窗上安装照明灯。
4、保温材料：采用聚氨脂泡沫塑料经高温高压发泡将外壳与低温室连接成一个整体。
5、样品室移动方式：样品静置。
符合标准：
《GB10592-89》高低温箱技术条件；
《GB10586-93》湿热试验箱技术条件；
《GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程》：低温试验方法；
《GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程》：高温试验方法；
《GB/T2423.4-93电工电子产品基本环境试验规程》：交变湿热试验方法；
《GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程》：恒定湿热试验方法。
技术特点：
1.*的造型升级，操作简单之面板接口。
2.采用日制*彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。
3.立式三箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录。
4.设有多重安全保护措施及装置。
5.完善的保护报警功能：当出现短路、漏电、工作室超温；压缩机超压、过载、油压、断水等异常状况时，荧幕上即刻自动显示故障原因及提供排除方法，并当发现输入电压不稳时，具有紧急停机装置。
6.冷热冲击结构移动时间在10秒内。
7.冷热冲击温度恢复时间在5分钟内，可符合MTL,IEC,JIS,GJB等规范。
8.可扩充设备：温度记录器。
9.Ln2快速降温控制系统。
10.RS-232通信接口装置，可与个人计算机同时进行局域网络联机监控及记录。
11.功能模块：此设备分为高温区、低温区及测试区三部分，采用*的断热结构及蓄热、蓄冷效果，采用冷热风15、路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试。
12.采用原装日制微电脑大型液晶（320*240dots）中英文显示控制系统。
13.高程式记忆容量，可设定储存100组程式，zui大循环设定9999cycles,每段时间zui大设999Hrs59Mins。
14.具有RS-232C通信介面装置，可与电脑连线控制/编辑/记录及十组动态链接（TIMER SINGAL RELAY）15)使用便捷。执行冷热冲击条件时，可选择2 Zone 或3 Zone之功能。
16.具备全自动，高精度系统，任一机件动作，*由P.L.C锁定处理。
17.机件故障时，配自动线路及警示讯号，发现输入电压不稳定时，具有紧急停机装置。
技术参数：
1、温度范围：-65℃～150℃：高温箱：+60℃～150℃；低温箱：0℃～-65℃；
2、温度波动度：±2℃;
3、温度误差：±2℃;
4、升温速率：从常温～150℃≤50min；
5、降温速率：从常温～-65℃≤60min;
6、制冷下限温度：≤-65℃;
7、冲击温度：+150～-65℃;
8、工作室尺寸：500×400×400mm（宽×高×深）;
9、外形尺寸：约1900×2100×2000mm（宽×高×深）;
10、电源：380V±38V；50Hz±1Hz
11、功率：约16.5Kw
12、温度恢复时间：≤5min;
13、样品架承重：10Kg以内.