智能抗干扰戒指损耗测试仪概述

智能抗干扰戒指损耗测试仪广泛应用于工频高压下测量各种绝缘材料、套管、电力电缆电容量，互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容量（CX）。它淘汰了Qsi高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗*力强，测试时间短等优点是我公司的第三代智能化介质损耗测试仪。

智能抗干扰戒指损耗测试仪特点

■ 测试方式：正接法、反接法、外接试验电压法
■ 测量范围：内接试验电压：≤60000PF（10kV电压大于30000PF）
■ 基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.04%
电容容量（Cx）：1%±1PF
■ 智能抗干扰介质损耗测试仪输出功率：1.5kW
■ 智能抗干扰介质损耗测试仪工作电源：AC220V±10% 50Hz
■ 使用环境：温度-20℃~45℃ 湿度＜75%
■ 外型尺寸：440×295×360(mm)
■ 重 量：18kg