J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统能够同时测定主要元素、微量元素以及同位素，快速绘制元素图，J200采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。这一特性使得J200能够保持精确的激光聚焦，不论高度差异如何，在所有采样点上提供相同的激光通量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀，Dr. Rick Russo为实验室科学家，他及其团队在激光剥蚀领域具有很高的声望。其本人从事激光与材料相互作用机理及相关应用研究达30余年，对于激光、光谱仪器、成像系统、计算及电子器件具有丰富的经验。

激光取样模式优势：
Axiom LA有一个大窗口，用以显示清晰、详细的样品图像。分析人员可以在样本图像上编写任意的激光采样模式的程序，包括光栅线、曲线、随机点、任意大小的网格和预先编程的图案。即使是具有挑战性(或复杂的)形状的采样区域也可以用图案生成工具突出显示，并且可以精确地分析元素或同位素含量。

微粒冲洗性能：
根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统ASI公司是一家专门研究激光剥蚀及光谱分析技术的高科技公司，研发人员均为美国劳伦斯伯克利实验室的科研人员，激光剥蚀进样系统可与市面上的普通四极杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用，J200的Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品，它使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间。此外，Flex样品室的设计是为等离子体光提供一个合适的视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。