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产品详情
0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小
测量频率1MHz~300MHz
测量时间：0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。
日本HIOKI IM7580A阻抗分析仪 技术参数
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | 0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
