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PROBE 30B低频磁场探头(配合辐射分析仪)
PROBE 30B低频磁场探头(配合辐射分析仪)
产品描述
概述
*微纳德Microrad低频磁场探头PROBE 30B，是一款三维磁场探头，对应三维(x&y&z) 空间的分量可单独地在探头输出，配合微纳德Microrad 宽频电磁辐射分析仪主机 |
测量各向同性的磁场强度。 |
*低频磁场探头PROBE 30B频率测量范围为5Hz-400KHz，覆盖了工业和医疗科技(ISM) 行业的应用。 |
*微纳德宽频主机搭配低频磁场探头PROBE 30B能够实现对公共电磁环境控制限值 (GB 8702-2014)以及工作场所有害因素职业接触限值(GBZ 2.2-2007)的低频磁场进行检测 与分析。 |
典型应用
*供电厂、高压输电线、变电站 |
*铁路和地面运输系统电力设备的测量 |
*工业炉、焊接、回火和干燥设备 |
*透热设备和医疗设备(如NMR/MRI) |
*CEI EN 50500《对人体暴露于铁路电子电气设备环境测量标准》 |
*CEI EN 62233《对人体暴露于家用及类似用途电器电磁场测量标准》 |
产品规格
频率范围 | 5Hz – 400KHz |
频率响应类型 | 平坦 |
测量范围 | 0.3 µT – 16 mT |
动态范围 | >94 dB |
传感器类型 | 电磁线圈 |
方向性 | 各向同性 |
频率响应的平坦度 | ±0.5 dB (50 Hz – 50 kHz) @ 30 µT |
±1 dB (50 kHz – 400kHz) @ 30 µT | |
线性度 | ±0.5 dB (1 µT – 1mT) |
各项同性的响应 | ±0.5 dB ( @50Hz ) |
频率校准 | 5-16.7-50-150-500-1500-5000-15000- |
建议校准周期 | 24个月 |
工作温度 | 0°C – 50°C |
尺寸 | 365 x 120 (mm) |
重量 | 135g |
产地 | 意大利 |
