PROBE 20B低频磁场探头(配合辐射分析仪) 辐射测量仪
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PROBE 20B低频磁场探头(配合辐射分析仪) 辐射测量仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-10-01 14:42:38
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上海何亦仪器仪表有限公司

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产品简介

PROBE 20B低频磁场探头(配合辐射分析仪)是一款三维磁场探头,对应三维(x&y&z)空间的分量可单独地在探头输出,配合微纳德Microrad宽频电磁辐射分析仪主机测量各向同性的磁场强度。

详细介绍

                                                   PROBE 20B低频磁场探头(配合辐射分析仪)


PROBE 20B低频磁场探头(配合辐射分析仪)


产品描述

概述

*微纳德Microrad低频磁场探头PROBE 20B,是一款三维磁场探头,对应三维(x&y&z)

空间的分量可单独地在探头输出,配合微纳德Microrad宽频电磁辐射分析仪主机

测量各向同性的磁场强度。

*低频磁场探头PROBE 20B频率测量范围为5Hz-20KHz,覆盖了工业行业的应用。

*微纳德宽频主机搭配低频磁场探头PROBE 20B能够实现对公共电磁环境控制限值

(GB 8702-2014)以及工作场所有害因素职业接触限值(GBZ 2.2-2007)的低频磁场进行

检测与分析。


典型应用

*供电厂、高压输电线、变电站

*铁路和地面运输系统电力设备的测量

*工业炉、焊接、回火和干燥设备

*透热设备和医疗设备(如NMR/MRI)

*CEI EN 50500《对人体暴露于铁路电子电气设备环境测量标准》


产品规格

频率范围

5Hz – 20KHz

频率响应类型

平坦

测量范围

0.3 µT – 16 mT

动态范围

>94 dB

传感器类型

电磁线圈

方向性

各向同性

频率响应的平坦度

±0.5 dB (50 Hz – 20 kHz) @ 30 µT

线性度

±0.5 dB (1 µT – 1mT)

各项同性的响应

±0.5 dB ( @50Hz )

频率校准

5-16.7-50-150-500-1500-5000-15000-20000 (Hz)

建议校准周期

24个月

工作温度

0°C – 50°C

尺寸

365 x 120 (mm)

重量

135g

产地

意大利


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