日本hrd-thermal薄膜热扩散率检测仪TM3 热导气体分析仪

日本hrd-thermal薄膜热扩散率检测仪TM3 热导气体分析仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-10-26 11:58:23
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秋山科技(东莞)有限公司

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产品简介

日本hrd-thermal薄膜热扩散率检测仪TM3
用于测量薄膜和微小区域的热扩散率

详细介绍

日本hrd-thermal薄膜热扩散率检测仪TM3


特性

热物理显微镜的测量原理(概述)

在样品上形成金属薄膜,并用加热激光器定期加热。

  1. 由于金属的反射率具有根据表面温度而变化的性质(热解法),因此通过捕捉与加热激光器同轴地照射的检测激光器的反射强度的变化,来测量表面的相对温度变化。去做。

  2. 热量从金属薄膜传播到样品,导致表面温度响应的相位延迟。该相位延迟取决于样品的热性质。通过测量加热光和检测光之间的相位延迟来获得热渗透率。

日本hrd-thermal薄膜热扩散率检测仪TM3

主要规格

名称/产品名称

热物理显微镜/热显微镜

测量方式

热物理性质分布测量(1维,2维,1点)

测量项目

热渗透率,(热扩散率),(热导率)

检测光斑直径

约3μm

1点测量标准时间

10秒

待测薄膜

厚度几百纳米到几十微米

重复精度

耐热玻璃,硅的热渗透率小于±10%

样品

1.样品架30mm x 30mm厚度5mm
2.板状样品30mm x 30mm以内,厚度3mm以内

  • 需要对样品表面进行镜面抛光。

  • 样品表面需要进行Mo溅射。

工作温度极限

24°C±1°C(根据设备中内置的温度传感器)

平台移动距离

・ X轴方向20mm
・ Y轴方向20mm
・ Z轴方向10mm

加热激光

半导体激光波长:808nm

检测激光

半导体激光波长:658nm

电源

交流100V 1.5kVA

标准配件

样品架,参考样品

选项

光学压盘,空调,空调房,飞溅装置



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