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eko太阳能电池评估的 I-V 曲线示图仪MP-160
¥30000日本sena TFT透镜表面检查灯185LE-AL 光学测量仪
¥25000日本sena TFT面板目视检查灯185LE-AL 光学测量仪
¥25000日本sena玻璃基板目视检查灯185LE-AL 光学测量仪
¥25000日本sena目视晶圆检查灯185LE-AL 光学测量仪
¥25000日本sena彩色滤光片检查灯185LE-AL 光学测量仪
¥25000日本soma紫外可见光吸收光谱仪S-3160 光学测量仪
¥80000日本soma可见光吸光光度计S-3160 光学测量仪
¥80000日本soma紫外线吸光光度计S-3160 光学测量仪
¥80000日本soma可见光吸收检测器S-3160 光学测量仪
¥80000日本soma紫外吸收检测器S-3160 光学测量仪
¥80000日本soma吸光光度计S-3160 光学测量仪
¥80000日本nanocoat表面清洁度检查设备coronasurf
利用振动电容法(开尔文探针)对因电晕放电而在固体表面放置的电荷引起的表面电位变化进行非接触测量,定量测定金属等基材表面的污染程度评估。
测量可以在几分钟内完成,因此它不仅可以用于清洁工艺开发,还可以用于生产线上零件的表面清洁度控制。
由于表面电位衰减曲线取决于薄膜的电性能和膜厚,因此也可用于控制绝缘体薄膜的厚度、金属表面氧化层的厚度以及DLC薄膜的质量控制。
测量探头直径 | φ6.35mm |
测量距离 | 1-3mm(标准) |
表面电位测量范围 | ±100V直流 |
表面电位分辨率 | 1毫伏 |
电晕放电电压 | 最大10kV |
测量头 (WxDxH) | 118x106x150(毫米) |
控制器(宽 x 深 x 高) | 343x296x134(毫米) |
表面电位测量电源(WxDxH) | 223x370x108(毫米) |
笔记本电脑 | - |
喷墨打印机 | - |
日本nanocoat表面清洁度检查设备coronasurf
测定原理
将镀金电极(直径约 6mm)在距测量表面几毫米的距离处振动,通过振动电容法测量表面电位。
振动电极称为开尔文探针。
首先,测量测量表面的初始电位 Vi。初始电位基本上取决于测量表面金属的元素(标准氧化还原电位、反应层等)。
测量初始电位 Vi 后,电晕放电头移动到测量面前方,向针电极施加数 kV 的高压,在大气中产生电晕放电。正离子从放电电离的等离子体中通过栅格提供给样品表面。通过调整样品电流和放电暴露时间来控制电荷量。这类似于复印机粘附碳粉的原理。
电晕放电完成充电后,开尔文探针再次移动到测量表面前面,并在给定的过渡时间内测量表面电势 V(t)。正电荷转移导致的表面电势偏移 dV0 对于干净的金属表面为负,对于绝缘污垢和氧化层为正(见图 1)。对于数据分析,使用表面电位图(见图 2),X 轴为表面电位偏移 dV0,Y 轴为初始表面电位 Vi。
Vi:初始表面电位
V(0):施加电荷后立即的表面电位
Vend:最终表面电位
表面电位偏移 dV0 = V(0) - Vi
表面电位变化 dV = Vend - V(0)