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napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80的介绍
napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80的介绍
简单的测量仪器，只需将样品插入探头之间即可测量
在电阻率/薄层电阻测量模式之间轻松切换
通过 JOG 拨盘轻松设置测量条件
*由于探头为固定型，请在购买前从多种类型中选择一种。
半导体/太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜（金属、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*请联系我们）
~8 英寸或 ~156x156mm
[电阻率] 1m 至 200Ω・cm
（*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时）
[薄层电阻] 10m 至 3kΩ/sq
（*所有探头类型的总范围）
*请参阅以下各探头类型的测量范围。
(1) 低：0.01 ～ 0.5Ω/□ (0.001 ～ 0.05Ω-cm)
(2) 中： 0.5 ～ 10Ω/□ (0.05 ～ 0.5Ω-cm)
(3) 高：10 ～ 1000Ω/square (0.5 ～ 60Ω-cm)
(4) S-High : 1000 to 3000Ω/square (60 to 200Ω-cm)
