赫尔纳供应德国NanoFocus三维激光扫描仪

赫尔纳供应德国NanoFocus三维激光扫描仪

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公司简介：

自 1994 年以来，NanoFocus AG 一直致力于开发、生产和销售用于工业和实验室的光学 3D 表面测量技术。工业用 3D 共聚焦显微镜，用于分析技术表面，配备µsurf 测量系统。伴随着不断的进一步发展，这些和其他 NanoFocus 技术是工业表面测量技术。

NanoFocus三维激光扫描仪主要产品：

NanoFocus三维激光扫描仪

NanoFocus三维激光扫描仪产品型号：

µscan CLM-FC

µsoft Metrology

NanoFocus三维激光扫描仪产品特点：

µscan CLM-FC 系列的测量设备还可用于检测密封材料和涂层中小的裂缝和缺陷，并检查气体扩散层 (GDL) 的孔隙率和缺陷。具有测量范围的高细节度，共焦多通道传感器的方法可实现动态扫描长度。

NanoFocus三维激光扫描仪产品应用：

NanoFocus三维激光扫描仪scan CLM-FC（燃料电池），燃料电池的生产相关和非破坏性表面分析，使用快速的全表面 3D 扫描，可以在临近生产时以高精度检查工具和双极板（石墨或金属）的表面质量。

NanoFocus三维激光扫描仪与传统测量方法（例如激光扫描显微镜）相比的优势：明显更大的测量范围。进给轴的行程动态决定扫描长度。结合行程范围可达 0.5 m 的可灵活配置的轴系统，该方法还可以测量大型双极板和重型工具。如果需要，全表面扫描轮廓仪可以与高分辨率 3D 显微镜结合使用。这种共焦光学测量系统可以根据标准对 3D 粗糙度进行详细评估。

NanoFocus三维激光扫描仪直观的测量和控制软件 µsoft metrology FC 保证了测量的高效进行。借助 µsoft Metrology，可以从一个用户界面方便地控制传感器和全景相机。在传感器或全景相机之间切换时，测量头会自动移动到定义的测量位置。几秒钟后获得具有强度叠加的测量结果的有意义的 3D 表示。

NanoFocus三维激光扫描仪表面分析软件 µsoft analysis FC 提供的功能包，用于显示和分析结构、粗糙度、波纹度、台阶高度、轮廓和其他表面特征。

NanoFocus三维激光扫描仪在直观的多语言用户界面中，按一下按钮创建复杂的分析报告。NanoFocus三维激光扫描仪剖面图、3D 重建或反射图像等多种显示选项可创建有意义的测量报告。用户可以轻松创建和实施个人评估方案。该软件包含过滤功能，并根据 ISO 25178、ISO 4287、ISO 13565 或 EN 15178 提供的标准参数。如果需要，NanoFocus 还可以创建单独的插件以进一步处理测量数据。

NanoFocus三维激光扫描仪3D光学轮廓仪1个2个3个，MarSurf CP/CL 选择，2D / 3D 轮廓测量，MarSurf CP 和 MarSurf CL select是光学轮廓仪，可用于测量和分析二维和三维表面——非接触式、与材料无关且快速。

NanoFocus三维激光扫描仪它们的特点是同时具有高测量精度的大测量区域的极快检测。 由于采用模块化设计，测量系统可以适应各种测量任务以及对自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求。根据测量任务的不同，可以灵活选择不同的传感器。轴系统和软件模块可以单独组合。

NanoFocus三维激光扫描仪MarSurf CP 和 CL选择您对自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 - 直至全自动测量解决方案。