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面议微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al?到92U 的固体或液体样品。
X-Strata920
X-Strata920
正比计数器或高分辨率 SDD
元素范围:钛 - 铀,或铝 - 铀(SDD)
样品舱设计:开槽式
XY 轴样品台选择: 固定台、加深台、自动台
样品尺寸:270 x 500 x 150毫米
数量准直器:6
滤光片:1
小的准直器: x 毫米( x10 mil)
SmartLink 软件
FT110A
FT110A
正比计数器系统
元素范围:钛 - 铀
样品舱设计:开闭式或开槽式
XY 轴样品台选择: 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台
样品尺寸:500 x 400 x 150 毫米
数量准直器:4
滤光片:初级 1,二级(可选)1
小的准直器: 毫米
X-ray Station 软件
EA6000VX
EA6000VX
高分辨率 SDD
元素范围: 镁 - 铀(使用氦气吹扫时钠 - 铀 )
样品舱设计:开闭式
XY 轴样品台选择:自动台
样品尺寸:270 x 220 x 150 毫米
数量准直器:4
滤光片:6 种模式自动切换
小的准直器: 毫米
X-ray Station & Mapping Station 软件
FT150
FT150
高分辨率 SDD
元素范围: 铝 - 铀
样品舱设计:开闭式
XY 轴样品台选择:自动台、晶片样品台
样品尺寸:600 x 600 x 20 毫米
滤光片:1 或 3
毛细聚焦管 < 35 μm
XRF控制软件