Thick 800

Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量.应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。

◆◆技术指标：
◆元素分析范围：从K到U
◆一次性可同时分析多层镀层
◆分析厚度检测出限zui高达0.01um
◆同时可分析多达5层以上镀层
◆相互独立的基体效应校正模型，厚度分析方法
◆多次测量重复性zui高可达0.01um
◆*工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
◆温度适应范围：15℃~30℃
◆输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）

◆◆配置
◆开放式样品腔
◆二维移动样品平台
◆探测器和X光管上下移动可实现三维移动
◆双激光定位装置
◆准直器自动切换装置
◆玻璃屏蔽罩
◆正比计数盒探测器
◆信号检测电子电路
◆高低压电源
◆X光管
◆计算机及喷墨打印机
◆样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
◆外型尺寸：648mm×490mm×544mm