产品简介
马尔MARSURF XR1 粗糙度测量站 用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。
该计算机式仪器根据标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度评估软件的成就。
详细介绍
马尔MARSURF XR1 粗糙度测量站 用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。
该计算机式仪器根据标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度评估软件的成就。
- 超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
- 带通滤波器 Ls 符合当前标准；Ls 也可根据需要关闭或更改。
- 全面的测量记录
- 快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
- 根据标准选择截止和扫描长度的自动功能
- 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态和动态）
- 可调维护和校准间隔
- 多种测量站配置可使用自定义应用
- 多种选项，提高系统灵活性
- 各种用户权限级别，避免设备被滥用，避免未*人员使用
测量原则 | 探针法 |
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输入 | BFW 无导块系统配有 MarSurf SD 26 驱动装置和/或 PHT 有导块系统配有 MarSurf RD 18 驱动装置 |
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测量范围 mm | +/- 250 µm（高达 +/- 750 µm，3x 测杆长度）适用于 BFW 系统
350 µm 适用于 PHT 测头系统 |
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过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波
ISO 16610-21/OSO 16610-31 标准滤波 |
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扫描长度（文本） | MarSurf GD 26 / SD 26：自动；0.56 mm*；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm，
测量至挡块，可变
* 扫描长度取决于 驱动装置
RD 18：自动；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm |
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采样长度数量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默认：5） |
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测量力 (N) | 0,7 mN |
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表面参数 | 超过 80 种
符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |
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