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详细介绍

DIC微分干涉工业显微镜JXM-3610

特点

DIC微分干涉工业显微镜JXM-3610是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的，作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其*性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式，在反射光照明下可进行明暗场观察和DIC观察、偏光观察。在透射光下作明场观察。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。

参数

技术规格
观察头	30°铰链式三目（50mm-75mm）
目镜	WF10×/25mm
目镜	WF10×/20mm,带0.1mm十字分划板
物镜	平场无限远长工作. 距离明暗场物镜： 5×/0.1B.D/W.D.29.4mm、 10×/0.25B.D/W.D.16mm、 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm、 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm、 80×/0.75B.D/W.D.4mm
转换器	带DIC插孔四孔转换器
平台	双层移动平台
	平台尺寸: 189mm×160mm
	移动范围：80mm×50mm
滤色片	插板式滤色片（绿、蓝、中性）
聚光镜	N.A.1.25阿贝聚光镜带可变光阑和滤色片
调焦	粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构.微动格值0.002mm
光源	透射照明:卤素灯12V/50W, AC85V-230V,亮度可调节
光源	落射照明:带孔径光栏和视场光栏，卤素灯12V/50W，AC85V-230V, 亮度可调节
偏光装置	检偏镜可360度转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路
检测工具	0.01mm测量尺
可供附件	可供附件
	二维测量软件
	专业金相图像分析软件
	落射照明：卤素灯12V/100W, AC85V-230V,亮度可调节
	平场无限远长工作距离明暗场物镜: 50×/0.55B.D/W.D.5.1mm、 100×/0.80B.D/W.D.3mm
	测微目镜
	130万、200万、300万、500.，1000万像素CMOS电子目镜
	摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×
	DIC（10×、20×、40×、100×）
	压平机
	彩色1/3寸CCD 520条线

特点说明

1．采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。

2．拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法，DIC并在

每一观察法中均提供高清晰的图像质量。

3．采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。

4． WF10×（Φ25）超大视野目镜，长工作距离明暗场金相物镜。

5．可插DIC微分干涉装置的转换器。

产品简介

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