MTZ-35是专门用于材料特性表征的阻抗分析仪，频率范围覆盖10μHz-35 MHz。

       MTZ-35可以与HTF-1100高温炉配合使用，以研究宽温度范围内（室温到1100℃）的材料性质。

       建议两个主要的样品支架：HTSH-1100，用于高温；CESH，用于环境温度~ 150℃（高）。

应用：

• 环氧树脂                                     
• 液晶
• 铁电体
• 生物细胞
• 极性液体
• 陶瓷
• 太阳能/光伏电池
• 传感器
• 橡胶
• 聚合物
• 纳米材料

利用阻抗图谱计算介电常数：

ω=2 π f                                 f   为测得阻抗频率值

电容C=1/( ω*z’’)               z’’ 为测得阻抗虚部值

电容C=S*ε / 4π Kd                K 为静电常数  9E+09

介电常数ε=4π KdC/S            d 为薄膜厚度

                                             S 为薄膜面积

介电损耗D=1/tan θ              Z’ 为测得阻抗实部值