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此仪器是用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构,可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定;原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析,观察金属、硅片等反射标本的表面结构和芯片检查,也可观察具有一定反射率的透明标本的表面结构。
53X 正置金相显微镜 技术参数:
目镜:平场目镜 10X/Φ18 12.5X/Φ15;
10X平场分划目镜;
物镜:消色差物镜 4X 0.10 15.0;
10X 0.25 11.4;
半平场消色差40X 0.65 0.30;
三目镜筒:可选配摄影、摄像装置;
总放大倍数:40X-500X(斜筒系数1X);
粗微动调焦:调节范围 15.5mm,微调焦格值 0.002mm;
玻璃工作台:120mm,大试样高度:约90mm。
型号 | 产品名称 | 规格 |
53X | 正置金相显微镜 | 正置式三目四个平场物镜100—1250倍落射光源 |