B4S（57746）美国GE保护膜探头

应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体

应用

用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷

锻件、铸件

金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、机器零件、壳体

特点

纵波单晶探头

适合DGS缺陷评判

性能参数误差小，适合高精度检测

可更换保护膜，保护探头不被磨损

柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合

合金压铸壳体，坚固耐用

用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）

接触法探头

接触法直探头, 带保护膜

应用

•   一般检测目的, 简单形状的大零件

•   锻件, 铸件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 机器零件, 壳体

•   高温检测时带延迟块

性能特征

•   欧款有可更换膜:

- 在不平整和曲面上增进耦合

- 延长探头寿命

- 适于DGS缺陷评定

- 可连接高温延迟块

- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选

•   美款有三种类型的保护:

- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.

- 耐磨帽定期更换可*延长探头寿命

- 高温延迟块可以实现  00°F (  00°C)表面检测.

- BNC 连接端口, 顶装或侧装

带保护膜探头—欧洲规格

B..S 和 MB..S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和频谱

附件