B2S-EN(500036)美国GE保护膜探头
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具体成交价以合同协议为准
2022-05-30 21:00:04
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京海兴乐科技(北京)有限公司

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产品简介

B2S-EN(500036)美国GE保护膜探头
应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体

详细介绍

B2S-EN(500036)美国GE保护膜探头

应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体

类型

订购号码

D

f

N

备注

 

 

mm

in

(MHz)

mm

in

 

B1S

57744

24

0.94

1

23

0.9

 

B1S-EN

500035

24

0.94

1

23

0.9

符合 DIN EN 12668-2

B1S-O

57755

24

0.94

1

23

0.9

顶端接口

B2S

57745

24

0.94

2

45

1.8

 

B2S-EN

500036

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

B2S-O

57756

24

0.94

2

45

1.8

顶端接口

B2S-O-EN

500267

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

顶端接口

B4S

57746

24

0.94

4

88

3.5

 

B4S-EN

500037

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

B4S-O

57757

24

0.94

4

88

3.5

顶端接口

B4S-O-EN

500268

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

顶端接口

B5S

57747

24

0.94

5

110

4.3

 

直探头:
B1S,B2S,B4S,MB2S,MB4S,MB5S,K1G,K2G,K4G,K1N,K2N,K4N,K5N,K5K,K10K,G1N,G2N,G4N,G2KB,G5KB,G5K,G10K,
B1F,B2F,B4F,B5F,MB2F,MB4F,MB5F,MB10F, 

应用

用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷

锻件、铸件

金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、机器零件、壳体

特点

纵波单晶探头

适合DGS缺陷评判

性能参数误差小,适合高精度检测

可更换保护膜,保护探头不被磨损

柔性保护膜,即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合

合金压铸壳体,坚固耐用

用于高温检测时可加装高温延迟块(定制产品)

欧规接触法直探头

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