B2S（57745）美国GE保护膜探头

应用
用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷
锻件、铸件
金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、机器零件、壳体

直探头：
B1S,B2S,B4S,MB2S,MB4S,MB5S,K1G,K2G,K4G,K1N,K2N,K4N,K5N,K5K,K10K,G1N,G2N,G4N,G2KB,G5KB,G5K,G10K,
B1F,B2F,B4F,B5F,MB2F,MB4F,MB5F,MB10F, 

应用

用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷

锻件、铸件

金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、机器零件、壳体

特点

纵波单晶探头

适合DGS缺陷评判

性能参数误差小，适合高精度检测

可更换保护膜，保护探头不被磨损

柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合

合金压铸壳体，坚固耐用

用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）

022-508-909 测厚仪（英文版） CL 5 (English)
022-509-102 测厚仪（中文版） CL 5 (Chinese)
GEIT1480176 超声波探伤仪 USM GO+ base
GEIT1480179  超声波探伤仪 USM Go+ AWS DAC
GEIT1480181 超声波探伤仪 USM Go+ AWS DGS
GEIT1480180 超声波探伤仪 USM GO+ ADVANCE
083-500-495 测厚探头 DA501 EN
083-500-502 测厚探头 DA503 EN
113-552-013 测厚探头 DA512
118-140-054 探头线 KBA-533
113-534-761 测厚探头 DA590EN
113-534-769 测厚探头 DA590
118-140-120 探头线 KBA-DA590
118-140-123 探头线 KBAMJ-DA590
113-527-660 测厚探头 ALPHA-2 DFR
113-518-655 测厚探头 Mini-DFR
113-526-000  测厚探头 ALPHA-2F
113-118-661 测厚探头 ALPHA DFR-P
113-544-000 测厚探头 CA211A
389-030-290 测厚探头 K-pen
022-505-604 探头线 C-604
0058160 探头线 CL 331 
 

接触法探头

接触法直探头, 带保护膜

应用

•   一般检测目的, 简单形状的大零件

•   锻件, 铸件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 机器零件, 壳体

•   高温检测时带延迟块

性能特征

•   欧款有可更换膜:

- 在不平整和曲面上增进耦合

- 延长探头寿命

- 适于DGS缺陷评定

- 可连接高温延迟块

- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选

•   美款有三种类型的保护:

- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.

- 耐磨帽定期更换可*延长探头寿命

- 高温延迟块可以实现  00°F (  00°C)表面检测.

- BNC 连接端口, 顶装或侧装

带保护膜探头—欧洲规格

B..S 和 MB..S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和频谱可定制特殊规格

附件