电子行业芯片调试制冷加热控温一体机
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具体成交价以合同协议为准
2022-05-29 15:30:03
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无锡冠亚恒温制冷技术有限公司

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产品简介

电子行业芯片调试制冷加热控温一体机
电子测试热系统在通过直流电时具有制冷功能,由于半导体材料具有可观的热电能量转换性能特性,所以人们把热电制冷称为电子测试热系统。电子测试热系统可以通过优化设计电子测试热系统模块,减小电子测试热系统模块的理想性能系数和实际性能系数间的差值,提高电子测试热系统器的实际制冷性能。

详细介绍

电子行业芯片调试制冷加热控温一体机

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 型号TES-4525 / TES-4525W
温度范围-45℃~250℃
加热功率2.5kW
制冷量250℃2.5kW
100℃2.5kW
20℃2.5kW
0℃1.8kW
-20℃0.85kW
-40℃0.25kW
导热介质温控精度±0.3℃
系统压力显示制冷系统压力采用指针式压力表实现(高压、低压)
循环系统压力采用压力传感器检测显示在触摸屏上
控制器西门子PLC,模糊PID控制算法,具备串控制算法
温度控制导热介质出口温度控制模式
外接温度传感器:(PT100或4~20mA或通信给定)控制模式(串控制)
可编程可编制10条程序,每条程序可编制45段步骤
通信协议以太网接口TCP/IP协议
设备内部温度反馈设备导热介质出口温度、介质进口温度、制冷系统冷凝温度、环境温度、压缩机吸气温度、冷却水温度(水冷设备有)
外接入温度反馈PT100或4~20mA或通信给定
串控制时导热油出口温度与外接温度传感器的温度差可设定可控制
温差控制功能设备进液口温度与出液口温度的温度差值可设定可控制(保护系统安全)
密闭循环系统整个系统为全密闭系统,高温时不会有油雾、低温不吸收空气中水份,系统在运行中不会因为高温使压力上升,低温自动补充导热介质。
加热指系统大的加热输出功率(根据各型号)
加热器有三重保护,独立温度限制器,确保加热系统安全
功率大于10kW采用调压器,加热功率输出控制采用4~20mA线性控制
制冷能力指在不同的温度具备带走热量的能力(理想状态下),实际工况需要考虑环境散热,请适当放大,并且做好保温措施。
循环泵流量、压力
max
采用冠亚磁力驱动泵/德国品牌磁力驱动泵
20L/min
2.5bar
压缩机法国泰康
蒸发器采用DANFOSS/高力板式换热器
制冷附件丹佛斯/艾默生配件(干燥过滤器、油分离器、高低压保护器、膨胀阀)
操作面板无锡冠亚定制7英寸彩色触摸屏,温度曲线显示EXCEL 数据导出
安全防护具有自我诊断功能;相序断相保护器、冷冻机过载保护;高压压力开关,过载继电器、热保护装置等多种安全保障功能。
制冷剂R-404A / R507C
接口尺寸G1/2
外型尺寸(风)cm45*85*130
外型尺寸(水)cm45*85*130
风冷型采用铜管铝翅片冷凝方式,上出风型式,冷凝风机采用德国EBM轴流风机
水冷型 W带W型号为水冷型
水冷冷凝器套管式换热器(帕丽斯/沈氏 )
冷却水量 at 25℃0.6m3/h
电源4.5kW max 220V
电源可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相
外壳材质冷轧板喷塑 (标准颜色7035)
隔离防爆可定制隔离防爆(EXdIIBT4)
无锡冠亚防爆产品安装许可证号:PCEC-2017-B025
正压防爆可定制正压防爆(EXPXdmbIICT4) 正压系统必须是水冷设备
无锡冠亚防爆产品安装许可证号:PCEC-2017-B025

精研测试恒温器发展现状

  无锡冠亚精研测试恒温器是作为半导体、芯片、元器件等企业测试需要的设备之一,那么,对于精研测试恒温器发展现状大家了解多少呢?

  随着近年来半导体技术的发展和应用场合的需求,对半导体集成电路的测试要求也越来越苛刻,对测试环境及测试硬件的要求更是越来越严格,准确度要求越来越高。半导体的温度测试就是其中之一,精研测试恒温器也是半导体行业很重要的业务之一,一般情况下汽车所使用的半导体集成电路均需要精研测试恒温器测试。一般情况下高温测试温度高达125℃,目前还在进行更高温的尝试;低温测试温度低至-45℃。精研测试恒温器则是一种半导体产品的疲劳测试,通过的设备对产品加电,并施加几小时至几十小时的高温、高压等外界条件,从而加速产品的失效时间,这样可以消除产品初期使用阶段容易出现的高故障率,从而保证交付客户的产品处于稳定可靠的工作阶段。

  随着集成电路电性测试技术及要求的提高,有些芯片产品内部集成了温度传感器,同时测试程序中加入了温度测试条目来实时准确的监测在测芯片的实际温度。即使没有集成温度传感器,现在的精研测试恒温器测试技术也可以通过测量某些与温度变化线性相关的精密二管的电压变化,通过一系列公式来计算出当前在测芯片的实际温度。

半导体温度测试系统

  半导体温度测试系统是半导体工艺中*的一个重要环节,无锡冠亚半导体温度测试系统是于各个半导体测试中,那么冠亚半导体温度测试系统大家都了解多少呢?

  

芯片测试控温系统发展背景

  芯片测试控温系统是伴随着芯片行业不断发展的,随着半导体集成电路制造业的发展以及信息技术的不断更新,元器件行业也快速发展起来,为此,无锡冠亚推出芯片测试控温系统,针对芯片、半导体、元器件行业的测试工作。

  随着进入高速发展的信息化时代,其中以半导体集成电路(简称芯片)制造和信息技术为主要代表,尤其是近十几年来汽车电子,消费电子等的快速发展与普及,现在的人们已经不能想象如果没有汽车,电脑,智能手机我们该如何进行各种日常的工作及生活娱乐等活动。这些主要归功于半导体集成电路技术的突飞猛进,集成度越来越高,功能越来越强大,体积越来越小。

  芯片的封装类型有很多种,其中常用的类型及大致应用方向都是比较多的,这里就不一一说明。如今的半导体产品市场竞争也是越来越激烈,就如同其他商品一样,价格手段同样是占领*有效的方法。各半导体工厂设备部门都在积创新,通过设备的引进与改良可以提高生产效率、良品率(Yield)以及单位时间的出货量。其中良品率的提升也是直接的手段,在生产效率相等的情况下,良品率越高意味着产出的成品越多、创造的价值越高,在巨大的出货量基础上,良品率哪怕提升也会带来非常可观的收益增长。

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