半导体芯片调试控温高低温一体设备

半导体芯片调试控温高低温一体设备

半导体芯片调试控温高低温一体设备

　　无锡冠亚微流控芯片测温系统是无锡冠亚自主研发生产的设备，结合以往制冷加热控温的经验，生产符合微流控芯片测试的设备，适合微流控芯片行业需求。

　　对于智能化微流控芯片测温系统的定义虽有不同的解释和理解，但采用计算机辅助测试（CAT）技术已成为测量仪器发展的必然趋势。不论采用单片机、单板机、敞视或主用通用微机，计算机在测量仪器中充当了越来越重要的角色，发挥着越来越大的作用。单片机、单板机的简单测试系统这类系统将单片机或单板机装入测量仪器，用于控制、管理和协调测量仪器各部分硬件的工作。通常成本较低，由于大多采用汇编语言编程，一般也具有较快的测试速度。有的系统配有简单的外设接口，例如可用打印机输出测试、数据，有的还配有键盘和显示器，可完成简单的人机交互。微流控芯片测温系统难于得到功能强大的软件包的支持。有的系统采用修改系统数据区完成对测试对象的编程，这使得非专业编程人员难于完成编程工作。这类系统比较适合于电子元器件生产线上的固定测试要求的大批测试。

芯片高低温测试机应用说明

　　无锡冠亚芯片高低温测试机是针对电子元器件行业测试所推出的，那么，这类芯片高低温测试机适用于那些行业呢？

　　经过无锡冠亚的努力，其开发生产的芯片高低温测试机TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型号可以用于中小规模数字集成电路逻辑功能及静态直流参数测试，在微弱电流测试方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光电搞合器、可控硅等各种半导体分立器件进行参数测试，测试原理符合国标及军标要求，功率参数采用300uS脉冲测试，并采用数据、图形双重显示。用于普通、化、时间等各类电磁继电器参数的测试，在触点接触电阻和时间参数的测试方面有良好的特性，被我国国军标电磁继电器生产线选用。