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无锡冠亚射流式高低温冲击测试机
给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供快速的环境温度。
是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估*的仪器设备。
广泛应用于半导体企业、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。
型号 | AES-4535 AES-4535W | AES-6035 AES-6035W | AES-8035 AES-8035W | AES-A1035W | AES-A1235W | |
温度范围 | -45℃~225℃ | -60℃~225℃ | -80℃~225℃ | -100℃~225℃ | -120℃~225℃ | |
加热功率 | 3.5kW | 3.5kW | 3.5kW | 4.5kW | 4.5kW | |
制冷量 | AT -45℃ | 2.5kW | ||||
AT -60℃ | 2kW | |||||
AT -80℃ | 1.5kW | |||||
AT -100℃ | 1.2kW | |||||
AT -120℃ | 1.2kW | |||||
温控精度 | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | |
温度转换时间 | -25℃ to 150℃ 约10S 150℃to -25℃ 约20s | -45℃ to 150℃ 约10S 150℃to -45℃ 约20s | -55℃ to 150℃ 约10S 150℃to -55℃ 约15s | -70℃ to 150℃ 约10S 150℃to -70℃ 约20s | -80℃ to 150℃ 约11S 150℃to -80℃ 约20s | |
空气要求 | 空气滤清器<5um 空气含油量:<0.1ppm 空气温湿度:5℃~32℃ 0~50%RH | |||||
空气处理能力 | 7m³/h ~ 25m³/h 压力5bar~7.6bar | |||||
系统压力显示 | 制冷系统压力采用指针式压力表实现(高压、低压) 循环系统压力采用压力传感器检测显示在触摸屏上 | |||||
控制器 | 西门子PLC,模糊PID控制算法 | |||||
温度控制 | 控制出风口温度 | |||||
可编程 | 可编制10条程序,每条程序可编制10段步骤 | |||||
通信协议 | 以太网接口TCP/IP协议 | |||||
设备内部温度反馈 | 设备出口温度、制冷系统冷凝温度、环境温度、压缩机吸气温度、冷却水温度(水冷设备有) | |||||
温度反馈 | T型温度传感器 | |||||
压缩机 | 法国泰康 | 法国泰康 | 法国泰康 | 意大利都凌 | 意大利都凌 | |
蒸发器 | 套管式换热器 | |||||
加热器 | 法兰式桶状加热器 | |||||
制冷附件 | 丹佛斯/艾默生配件(干燥过滤器、油分离器、高低压保护器、膨胀阀、电磁阀) | |||||
操作面板 | 无锡冠亚定制7英寸彩色触摸屏,温度曲线显示\\EXCEL 数据导出 | |||||
安全防护 | 具有自我诊断功能;相序断相保护器、冷冻机过载保护;高压压力开关,过载继电器、热保护装置等多种安全保障功能。 | |||||
制冷剂 | 冠亚混合制冷剂 | |||||
外接保温软管 | 方便外送保温软管1.8m DN32快接卡箍 | |||||
外型尺寸(风)cm | 45*85*130 | 55*95*170 | 70*100*175 | 80*120*185 | 100*150*185 | |
外型尺寸(水)cm | 45*85*130 | 45*85*130 | 55*95*170 | 70*100*175 | 80*120*185 | |
风冷型 | 采用铜管铝翅片冷凝方式,上出风型式,冷凝风机采用德国EBM轴流风机 | |||||
水冷型 W | 带W型号为水冷型 | |||||
水冷冷凝器 | 套管式换热器(帕丽斯/沈氏 ) | |||||
冷却水量 at 25℃ | 0.6m³/h | 1.5m³/h | 2.6m³/h | 3.6m³/h | 7m³/h | |
电源 380V 50HZ | 4.5kW max | 6.8kW max | 9.2kW max | 12.5kW max | 16.5kW max | |
电源 | 可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相 | |||||
外壳材质 | 冷轧板喷塑 (标准颜色7035) | |||||
温度扩展 | 高温到 +300℃ |
IC芯片温度冲击测试机清洁保养
IC芯片温度冲击测试机清洁保养
IC芯片温度冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供快速的环境温度,是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估*的仪器设备。IC芯片温度冲击测试机在运行的时候需要注意其清洁保养工作。
灰尘粘糊冷凝器会使压缩机高压开关跳脱而产生误报警,冷凝器应定期每月保养,利用真空吸尘器将冷凝器散热网片上附着的其尘吸除或开机后使用质硬的毛刷刷之或用高压气嘴吹干净灰尘。IC芯片温度冲击测试机开关门或从炉内取测试物时,不得让物品与门上胶边接触,以防胶边被破坏和缩短寿命.
IC芯片温度冲击测试机机身周围和底部的地面要随时保持清洁,以免大量灰尘吸入机组内产生意外事故和降低性能.冷冻系统是本机的核心,请半年巡检一次所有铜管有无泄漏雪种情况,各嗽叭接头、焊接口,如有油渍外泄,请通知本公司.
IC芯片温度冲击测试机配电室内每年至少清洁检修一次以上,接点的松动会使整个设备处于危险工作状态,轻则烧坏组件,重则发生火灾、报警、人身伤害非常危险. 清洁时清利用吸尘器将室内灰尘吸除即可。配电箱内的两个超温保护器设定值请不要随便调试,出厂时已调好,此保护开关是保护加热管空焚和警报之用 。
当IC芯片温度冲击测试机试验产品时间到达后取产品时,必须在关机状态下且工作人员一定要戴好干燥、防电、耐温手套进行取放产品。在操作前应先将内部杂质(物) 清除,箱体外部每年必须清洗一次以上, 清洗时用肥皂水擦拭即可。
无锡冠亚IC芯片温度冲击测试机广泛应用于半导体企业、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。