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光学调整架是做反射测量时候的探头支架,可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头,并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆,可以更方便的对准样品。
STAGE | STAGE-RTL-T | |
尺寸: | 152.4 mm 直径(base) | 206.3 mm 直径(base) |
尺寸: | 101.6 mm 直径(样品区域) | 152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域) |
重量: | 620 g | 4.5 kg |
高度: | 导轨高度可调 63.5 mm | 导轨高度可调 400 mm |
材质: | 阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆 | 阳极氧化铝 |
光学调整架是常用的光谱测量附件,与反射探头共用可实现反射光谱测量,与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜。
特点:
- 实现透射和反射光谱测量
- 测量高度可调
- 测量高度可通过一维平移台微调
- 自带两个准直透镜
- 可定制配合安装孔尺寸
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