仪器介绍

X-Ray电镀膜厚测试仪（thick680）是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验，以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成，测试简单，方便，易于人员快速掌握.

性能特点

专业贵金属检测、镀层测厚仪

内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

智能贵金属软件，与仪器相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型

多变量非线性回收程序

技术指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

X射线管：管电压50KV，管电流1mA

可测元素：Ti～U

检测器：正比计数管

样品观察：CCD摄像头

测定软件：薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm

标准配置

X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。

应用领域

X-Ray电镀膜厚测试仪主要用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。广泛应用于电子电器、五金工具、精密汽车配件、表面处理、PCB线路板等企业。