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光谱检测金属铜铝镁钛合金成分含量仪器设备
XRF技术领域中的企业,在检测质量和分析结果的性方面久负盛名。我们致力于通过我们的销售网络和服务团队,在产品、应用、培训和技术方面,为我们的用户提供的技术支持和售后服务。
残量/杂质元素
用于材料成分辨别(PMI)的Vanta手持式XRF分析仪的标准配置装有一个基于工业标准创建的残量(“杂质”) 元素库,这个元素库为各个牌号的残量元素设定了
可允许含量。Vanta分析仪可以测量污染元素的痕量水平, 这个功能对于很多应用都非常重要。
(HF)烷基化反应装置中残留元素的腐蚀情况,评估硫化腐蚀及流动加速腐蚀情况,而且不会影响或延迟快速获得且具有决定性的牌号匹配结果的过程
根据API、ASME和AWS规范及*规程,Vanta分析仪是对生产厂或冶炼厂中的新添或现有资产完成材料验证程序的重要工具。从验证送入仓库中的材料到安装之前对材料进行的后确认,Vanta分析仪都可以为用户提供必要的资产完整性信息,以避免发生灾难性或非计划性的维修事件,从而延长资产的使用寿命。
Vanta分析仪是验证焊接材料的化学成分和牌号的理想工具。可选3毫米瞄准摄像头可使检测人员在不考虑基质材料的情况下地分析窄焊道,以及其它接合在一起的 金属、合金和细小的起固定作用的部件,如:金属丝和焊料。可选购的全景摄像头可以将图像与分析结果一起保 存,以完成归档和报告制作
坚固可靠,适合在多种多样的环境中工作坚固耐用
对于电子设备来说,工作条件有时可能会极为恶劣,因此经常会使设备出现故障,从而使用户损失时间和金钱。Vanta 分析仪是一款坚固耐用的设备,可以正常运行很长的时间,而且其拥有成本不。Vanta便携式XRF分析仪符合IP65* 的评级标准,可以抵御雨水、尘土、灰尘的侵袭,而且通过了美国*标准(MIL-STD-810G)中的坠落测试,从而可以有效防止分析仪出现破损的情况,避免支付昂贵的修理费用。配备有硅漂移探测器的分析仪型号中装有探测器快门闸保护,可避免分析仪受到穿孔损伤,因此用户可以对粗糙的表面进行分析,而丝毫不用担心会损坏分析仪
Vanta分析仪可以在-10 °C到50 °C的温度范围内正常工作,因此操作人员即使在酷热的环境中也无需花费时间等待分析仪冷却,从而可以使分析仪进行无间断的100 全程检测。**分析仪的设计目的包括对温系统进行在役检测, 以及对温度达425 °C的样件表面进行检测。Vanta分析仪坚固耐用的特性使其不会轻易受到损伤,因此可以很大程度地增加正常工作时间,有效地提生产率,并降低用户拥有分析仪的成本
Vanta分析仪可以对以下元素进行重复性非常的探测和定量:
检测元素:
OLYMPUS VANTA VCA | GeoChem Mode(%) 地球化学模式 | S硫, Ca钙, 钛, V钒, Cr铬, Mn锰, Fe铁, Co钴, Ni镍, Cu铜, Zn锌, As砷, Se硒, Rb铷, Sr锶, Zr锆, Nb铌, Mo钼, Ag银, Cd镉, Sn锡, Sb锑, Ta钽, W钨, Au金, Pb铅, Bi铋, Th钍, Hg, U铀,Mg镁, Al铝 Si硅,P磷,Y铱 等多种元素 |
| 三元催化模式 | Pt, Pd, Rh, PLUS , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, , Ce, Hf, Ta, W, Se, Pb, & Bi等. |
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