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检测分析测试测定测量化验元素含量仪器设备
仪器资料：
手持式仪器资料：
Delta标准型DS2000合金分析仪元素分析范围
可分析从从12号元素Mg到94号元素PU之间的所有合金。
(标准型)合金分析仪器Innov-X Delta DS2000的分析模式与元素种类 | |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范围 | 分析范围：从12号元素Mg镁到94号元素PU范围内的31种基本元素，在以上范围内，可以根据客户需要更换其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
Delta标准型DS2000合金分析仪用途及应用
用于现场，无损，快速，准确分析检测合金元素和合号的识别。
合金材料鉴别（PMI）
来料检验；库存材料管理；安装材料复检
由于在石化建设，金属冶炼，压力容器，电力电站，石油化工，精细化工，制药，航空航天等行业中，混料或使用不合格的材料会产生严重的安全?肌?
Innov-X 便携式XRF 合金分析仪用以确保生产设备与管道中所使用的合金零部件与设计要求的规格**。
Innov-X 便携式XRF 合金分析仪携带方便，使用简单，分析速度快，精度，其结果直接显示合号、金属成分的百分比含量，从而使Innov-X 便携式XRF 合金分析仪成为合金*一供应商。
金属废料回收
废旧金属的回收、再利用需要Innov-X 便携式XRF 合金分析仪，确保对大量繁杂多样的合金种类及材料品质，进行现场快速准确的分析检测。
质量保证与质量控制（QA/QC）
合金分析仪技术规格
项目 | （标准型）合金分析仪Innov-X Delta |
尺寸与重量 | 外形尺寸：245x250x88mm；重量<1.5KG |
环境要求 | 环境湿度0~95%；环境工作温度-20℃ ~50℃；亮黄 黑色、银白色相间 |
激发源 | 大功率微型直板电子X射线管，内置15kV~40kV多段可选择的电压；无压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 |
射线管靶材 | Au、Ag靶 |
X射线探测器 | 标准型SDD硅漂移探测器 |
滤波器 | 八个滤光片可自动切换 |
电压、电流 | 电压15~40kv,电流200ua |
光谱束 | 两个光束段，不同的元素采用不同的电压与电流，产生好的分析效果 |
主机供电系统 | 2个锂电池,110v/220通用充电器, 充电器适配器，智能接驳座 |
智能接驳座 | 可对额外电池充电、仪器内置电池同时充电并显示充电进度，接驳座能连接电脑交换数据，可让仪器即时标准化，仪器随时待命状态 |
开机换电 | 仪器即使在开机状态下也可更换电池而并不需要关机，时间可达30秒 |
标准化 | 仪器开机并不需要标准化，可以直接测试，标准化仅仅是可选项 |
平衡性 | 仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感 |
散热性 | 超过1/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低 |
显示器 | 整机一体化设计，工业级分辨率TFT QVGA卡西欧 BlanView® 触摸显示彩屏，带LED背光；像素240×320 |
显示器固定方式 | 一体机设计,整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低 |
数据显示 | 百分比（%）显示元素含量，元素显示顺序可按能量、浓度值、用户自定义等方式排序,可统计多次测试的平均值,可接台式电脑显示;仪器在测试过程中同步动态显示化学成份 |
数据存储 | ROM128M、RAM128M、2G SD卡，可存储205000组数据与光谱 |
数据传输 | USB电缆、无线蓝牙进行数据传输，文件可采用TXT,EXCEL格式输出。 |
处理器CPU | 532MHz CPU 、Freescal，ARM1136-MX31处理器，浮点运算方式，速度大幅提 |
系统CPU外设 | 采用USB总线, I2C,GPIO, 蓝牙, 加速器，实时的时钟芯片，微型SD 存储卡 (可存储2GB 数据)，GPIO 条带连接到扳机和PSM |
操作系统 | 用户化 windows CE 6.0系统 |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本参数法，仪器在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析 |
合金种类 | 铁合金系列、镍基合金系列、钴基合金系列、钛基合金系列、铜基系列、6. 温合金、钼钨合金、铝合金、混杂合金系列 |
合号 | 内置合号351种，用户可自定义300种合号，能同时分析的合金651种，能分析的合金达万种， |
小样品测试 | 不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认 |
铝合金 | 能测试Mg, Al, Si, P等元素,能识别全系列的39种铝合号 |
Innov-X售后服务
深圳市客户服务中心，作为的Innov-X中国服务中心，负责整个中国市场的销售与技术服务。为中国地区的客户提供仪器安装、软件调试、使用培训、仪器校验、硬件维修与维护等售后
．质量保证：
公司保证向客户提供，美国Innov-X公司*仪器，使用上等的材料和头等工艺制成，全新，进口，未曾使用，并*符合本合同规定的质量。货品质量保证期为十二个月.
．技术培圳：
如何使用正确的XRF方法进行合金及牌检测
Innov-X Delta DS2000的操作方法
Innov-X Delta DS2000的保养方法
．售后服务：
美国（Innov-X System）公司为其范围内的伊诺斯产品提供售后服务。中国区域内的伊诺斯用户由深圳市售后服务中心 Innov-X中国服务中心负责产品的终身维护。美国伊诺斯（Innov-X System）公司为其范围内的伊诺斯产品主机提供壹年的保修期，为X射线管（X-tube），探测器(Dector)提供2000小时或壹年的保修期，为PDA提供壹年的保修期。附件锂电池，电源供应器，充电器, 数据传输座不在保修范围内。
、下述物理性损坏不保修。
A：仪器承受很大的冲击力导致机器内部的冲击传感器由白色变成红色。
B：detector破损。
C：PDA破损。
D：仪器外壳破损。
E：附件
F：部件丢失。
G：仪器进异物。
ICP电感耦合等离子体发射光谱仪（标准机）
产品简介
ICP-型电感耦合等离子体发射光谱仪是经多年技术积累而开发的电感耦合等离子体发射光谱仪，用于测定各种物质（可溶解于盐酸、硝酸等）中的微量、痕量金属元素或非金属元素的含量，自动化程度、操作简便、稳定可靠。目前仪器广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。
工作环境
内容 适应范围
贮存运输温度 15℃-25℃
贮存运输相对湿度 ≤70％
大气压 86-106 kPa
电源适应能力 220±10v 50-60MHz
工作湿度 ≤70％
工作温度 15℃-30℃
技术指标
固态电源技术指标
电路类型：电感反馈式自激振荡电路，同轴电缆输出，匹配调谐，功率反馈闭环自动控制
工作频率：40.68MHz±0.05％
频率稳定性：＜0.1%
输出功率：800W—1200W
输出功率稳定性：＜0.3%
进样系统技术指标
输出工作线圈内径25mm
矩管，三同心型，外径20mm的石英矩管
同轴型喷雾器外径6mm
双筒形雾室外径34mm
氩气流量计规格和载气压力表规格
1.等离子气流量计（100-1000）L/h (1.6-16L/min)
2.辅助气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)
3.载气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)
4.载气稳压阀（0-0.4MPa）
5.冷却循环水：水温20-25℃ 流量>5L/min 水压>0.1MPa
单色器技术指标
光路：Czerny-Turner
焦距：1000mm
线色散率倒数：0.26nm/mm
分辨率：≤0.007nm(3600刻线）. ≤0.015nm(2400刻线）
步进电机驱动小步距:0.0006 nm
出射狭缝：12μm入射狭缝：10μm
光电转换器技术指标
光电倍增管规格：R293或R928
光电倍增管负压：0-1000V稳定性＜0.05%
整机技术指标
扫描波长范围：195nm～500nm（3600L/mm光栅）195nm～800nm（2400L/mm 光栅）
重复性：（即短期稳定度）相对标准偏差RSD≤1.5％
稳定性：相对标准偏差RSD≤2％
检出限（μg/L）：
元素 | 波长 | 检出限 |
| 元素 | 波长 | 检出限 |
La | 408.672 | <3.0 |
| Cr | 267.716 | <5.0 |
Ce | 413.765 | <5.0 |
| Al | 396.152 | <5.0 |
Pr | 414.311 | <5.0 |
| Zr | 343.823 | <5.0 |
Nd | 401.225 | <5.0 |
| Ag | 328.068 | <3.0 |
Sm | 360.946 | <10.0 |
| Sr | 407.771 | <1.0 |
Eu | 381.967 | <1.0 |
| Au | 242.795 | <5.0 |
Gd | 342.247 | <10.0 |
| Pt | 265.945 | <5.0 |
Tb | 350.917 | <3.0 |
| Pd | 340.458 | <5.0 |
Dy | 353.170 | <3.0 |
| Ir | 224.268 | <10.0 |
Ho | 345.600 | <3.0 |
| Rh | 343.489 | <10.0 |
Er | 337.271 | <3.0 |
| Ru | 240.272 | <5.0 |
Tm | 313.126 | <3.0 |
| 455.403 | <1.0 | |
Yb | 369.419 | <1.0 |
| As | 228.812 | ≤15 |
Lu | 261.541 | <3.0 |
| Sb | 206.833 | ≤15 |
Y | 371.030 | <1.0 |
| Bi | 223.061 | ≤10 |
Sc | 335.373 | <1.0 |
| Hg | 253.652 | ≤15 |
Ta | 226.230 | <5.0 |
| Pb | 220.353 | ≤15 |
Nb | 313.340 | <5.0 |
| Ga | 294.364 | ≤10 |
Mn | 257.610 | <3.0 |
| Se | 203.985 | ≤10 |
Mg | 279.553 | <1.0 |
| Sn | 242.949 | ≤20 |
B | 249.773 | <10.0 |
| Te | 214.281 | ≤10 |
Zn | 213.856 | <3.0 |
| Ta | 226.230 | ≤5.0 |
Co | 228.616 | <3.0 |
| Th | 283.730 | ≤10 |
Si | 251.611 | <10.0 |
| Tl | 276.787 | ≤30 |
Ni | 232.003 | <5.0 |
| Re | 227.525 | ≤5 |
Cd | 226.502 | <3.0 |
| Ge | 209.426 | ≤15 |
Fe | 239.562 | <3.0 |
| Os | 225.585 | ≤1 |
Ca | 393.366 | <1.0 |
| W | 207.911 | ≤10 |
Mo | 281.615 | <5.0 |
| Se | 203.985 | ≤30 |
V | 310.230 | <5.0 |
| Li | 670.784 | ≤3 |
Be | 313.041 | <1.0 |
| Na | 588.995 | ≤20 |
334.941 | <3.0 |
| K | 766.490 | ≤60 | |
Cu | 324.754 | <3.0 |
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检测分析测试测定测量化验元素含量仪器设备
