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产品信息:
采用新的科技分析X荧光光谱,对贵金属成份进行无损快速分析,该仪器采用新Si-PIN探测器,其分辨率为149±5eV。
应用领域:
贵金属(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相关制品的生产、销售、回收的检测;
用于各种金属合金(铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等)的成份分析。
功能:
开放式工作曲线,可以根据需求建立新工作区
测试样品:各种不同形状样品,满足大样品测试需求
安全性能:迷宫式设计,*达到辐射安全指标
报告模板多样化,适应各种测试需求
仪器参数:
分析软件:Ux-6280贵金属分析软件
分析元素种类:26种元素可同时分析
分析方法:基本参数法(定量)
分析元素范围:Na-U,可同时分析26种元素
测量范围:ppm-100%
测量时间:100-300s
度:0.1%(常量相对误差)
分辨率:149±5eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
功率:350W
外形尺寸:640(W)*474(D)*412(H)(mm3)
样品仓尺寸:300(W)*300(D)*100(H)(mm3)
重量:约48Kg
工作环境:15-30°C,相对湿度≤85%(不结露)
工作电源:AC220-240V,50/60Hz,350W
标准配置:
探测器: 2级半导体电制冷。
X射线管:薄铍窗侧窗X射线管(Mo靶、Rh靶)
清摄像头装置
定位装置
自动开盖装置