日置LCR测试仪IM3523
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间
产品概述
日置LCR测试仪IM3523
LCR测试仪IM3523测量方法：连续测量不同条件
在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。
LCR测试仪IM3523测量方法：顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能
为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更，多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
可靠的产线检查：接触检查功能
检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。
产品规格
| 测量模式 | LCR,连续测试 |
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| 测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
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| 测量量程 | 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
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| 可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为分辩率时的显示位数）
只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999)
Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%) |
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| 基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
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| 测量频率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
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| 测量信号电平 | 正常模式
V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA～50mArms,10μArms |
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| 输出阻抗 | 正常模式：100Ω |
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| 显示 | 单色LCD |
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| 测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
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| 功能 | 比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能 |
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| 接口 | EXT I/O(处理器)，USB通信(高速)
选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一 |
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| 电源 | 100～240V AC，50/60Hz，大50VA |
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| 尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
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| 附件 | 电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |
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选件
4端子探头L2000DC~8MHz，1m长
4端子开尔文夹9140-10DC~200kH，50 Ω，1 m长
镊形探头L2001线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
测试治具9261-10线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
测试治具9262DC～8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
SMD测试治具9677用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
解决方案
- 瞬间检测线圈的绕圈开始、绕圈结束的错误
- 双电层电容器（EDLC）的内阻测量
- 电梯振动测量
