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日本KETT涡流膜厚仪LH-200J
型号 | LH-200J | |
测量方式 | 涡流类型 | |
测量目标 | 非磁性金属上的绝缘涂层 | |
测量范围 | 0-800µm或32.00mils | |
测量精度 | 小于50μm | ±1微米 |
50μm以上 | ±2% | |
解像度 | 小于100μm | 0.1微米 |
100μm以上 | 1.0微米 | |
符合标准 | JIS K5600-1-7,JIS H8680-2,JIS H8501 ISO2808,ISO2360,ISO2064,ISO19840 BS3900-C5,ASTM D7091-5 | |
统计功能 | 测量数量,平均值, 大/小标准偏差,程序段号 | |
探针 | 一点接触恒压型(LHP-J) | |
显示方式 | 数字(LCD,小显示数字为0.1µm) | |
外部输出 | RS-232C接口(传输速度2400bps) | |
电源供应 | 100 V AC(50/60 Hz)或 1.5 V电池(AA碱性)x 6打印机x 4 | |
尺寸图 | 120mm(宽)×250mm(深)×55mm(高) | |
弥撒 | 1.0公斤 | |
配件类 | 标准板,铝基板,标准板盒 电池1.5V(AA碱性),探头适配器 交流适配器,打印机纸,手提箱 |
日本KETT涡流膜厚仪LH-200J
■规格型号LH-200J测量方法涡流法测量非磁性金属上的目标绝缘膜测量范围0至800µm或32.00mils测量精度小于50µm±1µm 50µm ...
0R规格型号LH-373测量方法涡流法测量目标非磁性金属上的绝缘涂层测量范围0至1200 µm或47.0 mils测量精度小于50 µm±1 µm 50 µm以上且小于1000 µm±2%1000 µm以上±3%分辨率小于100 µm 0.1微米...