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LZ-990涂层测厚仪
面议日本KETT LZ-990涂层测厚仪
面议英国牛津测厚仪OXFORD-243E
面议GYX-515(原QFH) 百格刀 涂层 漆膜 划格器 附着力测试仪
面议HCTC-10 涂层附着力检测仪
面议美国ALP高斯计GM-1-ST (替代M-1-ST)/DGM-1/高稳定型(Model1-HS)/M
面议美国奥豪斯(210g*0.0001)分析天平CAV214C|分析天平CAV214C
面议美国奥豪斯(220g万分之一)分析天平天平EX224ZH|分析天平天平EX224ZH深圳
面议美国奥豪斯总代理|万分之一分析天平DV214C|美国奥豪斯DV214C|分析天平DV214C
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面议英国牛津涂成测厚仪 OXFORD-95M
产品特点:
1、一秒之内测量铜箔厚度。
2、消除高废料和返工造成的浪费——快速精确地识别铜箔厚度
3、仅有的能测量全范围铜箔厚度的经济实用的便携式测厚仪
4、消除板材的磨损--新OXFORD-95M有一个*的软探针设计防止铜箔表面被擦伤或损毁
5、经久耐用,操作简单,使用方便
6、出厂前校准,无需标准片
7、低电量提醒
8、Ce认证
OXFORD-95M优势:
1、牛津仪器公司推出的OXFORD-95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪,它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度,范围从1/8 到4.0 盎司/ 平方英尺(5-140 微米)。
2、 OXFORD-95M由工厂调校,不需要任何标准片。它使用方便,只需将产品*的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。
3、避免高昂的回收再生的成本 - 快速精确地鉴定特定铜箔厚度一款行业认可的坚固易用且价格合理的手持式测厚仪,通过厚度测量分拣铜箔薄片非破坏性检测。
4、 新型OXFORD-95M配有超软接触式探针,避免铜箔表面刮伤。
5、 仅有的能测量全范围铜箔厚度的经济实用的便携式测厚仪。
OXFORD-95M测量范围:
Oz/Ft2 | 1/8 | 1/4 | 3/8 | 1/2 | 1 | 2 | 3 | 4 |
um | 5 | 9 | 12 | 17 | 35 | 70 | 105 | 140 |
一体式测厚仪 OXFORD-165
OXFORD-95M产品优势:带温度补偿功能的面铜测厚仪
1、牛津仪器公司推出的OXFORD-165,是世界带温度补偿功能的面铜测厚仪,手持式设计符合人体工学原理。
2、面铜测量往往受到样品温度的影响,OXFORD-165的温度补偿功能解决了这个问题
确保测量结果精确而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩
确保探针的耐用性,即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。
3、可测试高/低温的PCB铜箔
4、免去了试样成本
5、显示单位可为μm , mils 或oz
6、可在PCB钻孔、剪裁、电镀等工序前进行铜箔来料检验
7、可用于电镀铜后的面铜厚度测量
OXFORD-95M产品功能:
数据显示单位可选择mils、μm 或oz |
操作界面有英文和简体中文两种语言供选择 |
仪器无需特殊规格标准片,同样可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量 |
可测线宽范围低至204μm |
仪器可以储存9690 条检测结果 |
测试数据通过USB2.0 实现高速传输,也可保存为Excel格式文件 |
仪器为工厂预校准 |
客户可根据不同应用灵活设置仪器 |
用户可选择固定或连续测量模式 |
仪器使用普通AA电池供电 |
强大的数据统计分析功能,包括数据记录、平均数、标准差和上下限提醒功能。 |
牛津仪器——检测探头SRP-T1
特点:
1、 OXFORD-165探针可由客户自行替换,替换后无需再校准即可使用,备用的OXFORD-165探头减少了用户设备的停工期。
2、 探针的照明功能有助于线型铜箔检测时的准确定位。
3、 操作界面有英文和简体中文两种语言供选择。
4、 利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量,符合EN 14571测试标准。