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广州日横电子科技有限公司*现货供应日本日置 ,LCR测试仪 IM3536 HIOKI 日本日置, 谢小 姐 :
概要:
DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的*产品
● 测量频率DC,4Hz~8MHz
● 测量时间:zui快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中
LCR测试仪 IM3536 HIOKI 日本日置
测量模式 | LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量) |
---|---|
测量参数 | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
测量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定) |
显示范围 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ) |
测量频率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
测量信号电平 | [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定 |
DC偏压 | 发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
输出阻抗 | 通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
显示 | 彩色TFT5.7英寸,触摸屏 |
功能 | 比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
接口 | EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
体积及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1
|
※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。
直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
DC~200kH,50 Ω,1 m长
广州日横电子科技有限公司*现货供应日本日置 ,, 谢小 姐 :
线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
DC~8 MHz, 直接连接型
直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
直接连接型,40Hz~8MHz,zui大外加电压DC±40V
直接连接型,40Hz~2MHz,zui大外加电流DC 2A(zui大外加电压DC±40V)
线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
LCR测试仪 IM3536 HIOKI 日本日置
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
用于更换L2001的前端的小型尺寸
DC~5MHz,1m长
线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
2m长
9pin-9pin,1.8m长
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LCR测试仪 IM3536 HIOKI 日本日置