X荧光光谱仪EDX8800E产品特点

1. 采用的美国*SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探测器,分辨率更高, 大大提高了轻元素的检出限，标准检出限较SI-PIN探测器提高100倍；测量范围更宽，基本涵盖了各种常规材料元素分析要求；

X荧光光谱仪EDX8800E 配置美国*数据集成处理系统,数据采集速度更快，测量更稳定，重复性和*稳定性更好；

3. 配置开发的测量软件,集成多种图形计算方法,测量数据更精准，更稳定；

4. 软件全面监控仪器主要核心部件运行状态,使用更安全；

配置专门开发的真空系统,真空性能更好,测试效果更佳；

技术参数:

1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)

2.. 元素含量分析范围为1ppm到99.99％

3. zui低检出限：1ppm

4. 测量时间：60-200秒(可调)

5. 仪器工作电源：AC220±5V

6. 能量分辨率为129±5eV

7. X 射线光管zui大输出电流：1mA

极限压力：6.7×10^-2Pa

9.样品腔尺寸：610*320*100(mm)（不抽真空）/Φ100*h75(mm) (真空样品腔)

10.多次测量重复性(以标准样品为准)：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量)

11.*工作稳定性(以标准样品为准)±:0.06％ (高含量）/±0.0025％(微量)