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HIOKI日置ST5541泄漏电流测试仪
面议HIOKI日置ST5540泄漏电流测试仪
面议HIOKI日置ST5520绝缘电阻测试仪
面议HIOKI日置3174自动绝缘耐压测试仪
面议HIOKI日置3159绝缘/耐压测试仪
面议HIOKI日置3153绝缘耐压测试仪
面议HIOKI日置RM3545电阻计、RM3545电阻测试仪
面议HIOKI日置RM3544电阻计、RM3544电阻测试仪
面议HIOKI日置RM3543电阻计、RM3543电阻测试仪
面议HIOKI日置RM3542电阻计、RM3542电阻测试仪
面议福禄克Fluke 1537绝缘电阻测试仪
面议福禄克Fluke 1535绝缘电阻测试仪
面议日本HIOKI日置SM7420高阻计
适合于安装在自动设备中的4ch微小电流测量机型
● 实现了是以往300倍的抗干扰性能
● 快6.4ms的高速测量
● 通道独立低电容接触检查
● 大显示2×10^19 Ω,小分辨率0.1 fA
● 标配EXT I/O、RS-232C、GP-IB、USB
● 适合于安装在自动设备中,构建简单的MLCC泄漏电流检查线
日本HIOKI日置SM7420高阻计不标配测试用探头。请根据测试目的另外购买选件中的探头。
保留SM7120的抗干扰和测量功能,专门测量微小电流的4CH机型全新登场。 这是适用于组装至自动设备中的高速机型,比如MLCC检查的批量生产检查等。
标配了接触检查功能。
通过和外部电源组合使用的微小电流测量功能,可以实现接触检查,因此组装时可以放心使用。无需过多的尝试,提高整体的工时。 4通道单独检查,可以设置频率和延迟时间,因此能够做符合产线设计的细微调整。
测量通道数 | 4ch |
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直流电流测量(精度) | 20 pA量程 (分辨率 0.1 fA), 精度 ±(2.0% of rdg. +30 dgt.) 200 pA量程 (分辨率1.0 fA), 精度±(1.0% of rdg. +30 dgt.) 2 nA量程 (分辨率10 fA), 精度±(0.5% of rdg. +20 dgt.) 20 nA量程 (分辨率100 fA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 nA量程 (分辨率1 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 2 μA量程 (分辨率10 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 20 μA量程 (分辨率100 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 μA量程 (分辨率1 nA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) ※2 mA量程 (分辨率10 nA), 精度±(0.5% of rdg. +30 dgt.) (1) 测量速度设置 SLOW2=内部累积时间设为13PLC时 (2) 温度范围 23 ±5℃ 湿度 85% rh以下 (3) 2 mA量程时只能在测量速度为FAST时选择 |
电阻显示范围 | 50 Ω 〜2×10 ^19 Ω ※电阻测量精度由电流量程精度和电压设置精度规定 |
电流限制 | 0.1〜250.0 V: 5/ 10/ 50 mA, 251〜1000 V: 5/ 10 mA,1001V〜: 1.8mA |
测量时间设置 | 延迟时间: 0~9999 ms |
功能 | 通道独立接触检查、通道独立线长补偿、通道独立治具电容开路补偿、比较器 |
显示 | LCD显示(30位,8行)、背光、高压警告显示 |
接口 | USB, RS-232C, GP-IB |
电源 | AC100〜240 V , 50/60 Hz, 45 VA |
体积及重量 | 330W × 80H × 450D mm, 6.5 kg |
附件 | 电源线×1, 使用说明书×1, CD (通讯指令说明书, USB驱动)×1, EXT I/O用公头连接器×1 |
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