沃特世基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪

沃特世基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪

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2022-05-25 10:10:03
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产品简介

沃特世基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪是功能强大的通用型MS平台。它是结合复杂样品分析中多维分离的手段,其功能涵盖成像、生物样品研究和化工材料鉴定。

详细介绍

沃特世基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪是功能强大的通用型MS平台。它是结合复杂样品分析中多维分离的手段,其功能涵盖成像、生物样品研究和化工材料鉴定。

沃特世基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪高性能精确质量数MALDI MS/MS

MALDI SYNAPT G2-Si 质谱系统适用于成像、化工材料鉴定、蛋白质组学和制药领域,可让您得到的结果。MALDI SYNAPT G2-Si由一台脉冲频率为2.5KHz的固态激光器驱动,可实现分析过程中光谱采集速率的*大化。光斑大小可根据试验需要进行配置,不论是定性分析中灵敏度和速度的优化还是成像研究中测定*高空间分辨率下化合物的空间分布均适用。

由于Tof分析仪的正交几何结构,离子源在质谱分析中实现“去耦合”。因此,与轴向MALDI-Tof或Tof/Tof仪器不同,该设备能够确保在广泛的质量范围内,对于MS和MS/MS模式都能获得高分辨率和准确质量数。此外,SYNAPT非常适合处理绝缘样品,例如石蜡包埋型组织切片或载玻片等。

利用T-Wave IMS实现的离子化后分离

某些情况下,色谱和质量数分辨率还不能满足要求。借助高效T-Wave离子淌度技术,您可以在分子大小和形状的基础上获得另一个分离维度。利用分子碰撞截面(CCS)特性这一项*的功能,可以提供*高水平的选择性、特异性、灵敏度和结构分析。其优点还包括同分异构体分离、消除干扰、生成更干净的谱图,以及借助CCS测量方法更准确地鉴定化合物。

高分辨率成像(HDI)MALDI工作流程

在同一个精简的成像工作流程中,MALDI SYNAPT G2-Si HDMS融合了T-Wave IMS和QuanTof技术,以提供的选择性、清晰度和可靠性。

HDI MALDI解决方案提供了一系列*且强大的多靶向(IMS/MS/MS)和无靶向(IMS/MSE)工作流程,包括以图像为中心的方法设置、数据处理和图像生成。综合相关(基于与空间位置漂移时间相关的碎片离子)与统计工具(例如PCA、OPLS-DA、S-plots、聚类分析)相结合,提供了更智能、更可靠的成像分析。

在SYNAPT上可以使用全面的UPLC/MS/MS功能,同时能够在同一个平台上对生物液体或激光切割组织切片进行高效定量和定性分析。

通用型实验选件

借助高解析度四极杆和双碰撞室TriWave装置,SYNAPT提供了高质量CID碎裂功能,可用于小分子和脂类以及糖和聚合物等的MS/MS鉴定。例如,与传统MS3技术相比,时间对齐平行碎裂可提供的数据质量和占空比。 沃特世的离子源结构可与多种直接分析技术相结合,例如ASAP、DESI、DART、LAESI和LDTD。它们可快速互换,在几分钟内即可使用。MALDI SYNAPT G2-Si平台还包括ESI、APCI、APPI电离方式的选项,并且可以兼容UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC、APC或UPC2实现分离。

 

的UPLC/MS/MS性能

在与MALDI相同的MS平台上,SYNAPT同时提供UPLC/MS/MS功能的选择。

将StepWave和UPLC分离与定量飞行时间(QuanTof)技术相结合,实现*高的峰容量和数据质量。StepWave是目前*灵敏和*可靠的离子源,具有“主动”选择离子和“被动”防止中性污染物的*功能。

与其他所有质谱分析器不同,QuanTof能够提供高质量数高分辨率、精确质量数和准确的同位素比例、宽的动态范围(谱图内和定量)和m/z范围,并且都可以在*快的采集速率实现,即便是对于高基质负荷的样品也是如此。

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