Lambda紫外可见分光光度计波长范围：Lambda 650为190～900nm, Lambda 850为175～900nm,Lambda 900为175～3300nm,；整机及光学系统采用宇航技术的硬件：整个光学系统均采用涂覆SiO2的全息刻线光栅（紫外/可见刻线数为1440条/mm，近红外360条/mm）；采用*的四区分段的扇形信号收集的斩波器，确保了每次得到*准确样品和参比的信号（斩波器运转期间，样品和参比的信号分别单独被各自的黑区信号所校正，波长精度*高：紫外/可见区0.08nm）； 

采用预校准并可自动切换的碘钨灯与氕灯；在整个紫外/可见区采用高灵敏度光电倍增管；宽大的样品仓：可放入各种附件并将光路调整*，可选附件*多（如积分球、固定/可变角的相对/镜反射附件等），稳定性好、基线平直度度、杂散光低。仪器极其稳定、经久耐用。线性范围宽:8A；多种软件可选：UV Winlab操作软件包（标准配置，包括酶动力学KinLab及生化方法BioLab）、ASSP高级软件包（包括色度、滤光片、建筑玻璃、防护玻璃、数学运算及数据库等的模块功能）。

Lambda紫外可见分光光度计主要特点：

1、主机： 
双光束、双单色器、比例记录并由计算机控制的紫外/可见（/近红外）分光光度计。 

2、光学系统： 
整个光学系统全部采用涂有SiO2保护层的反射光学元件，全息刻线光栅刻线密度*高（紫外/可见为1440条/mm，近红外360条/mm）；采用*的四区分段的扇形信号收集的斩波器，确保了每次得到*准确样品和参比的信号（斩波器运转期间，样品和参比的信号分别单独被各自的黑区信号所校正，波长精度*高：紫外/可见区0.08nm）； 

*的四区分段的扇形信号收集的斩波器：即扇形信号校正技术（CSSC） 
数据采集顺序为：样品/黑区/参比/黑区 

3、仪器的标准波长范围宽： 
Lambda 650: 190～900nm 
Lambda 850: 175～900nm（185nm以下需氮气吹扫） 
Lambda 950: 175～3300nm（185nm以下需氮气吹扫） 

4、仪器的线性范围宽： 
紫外/可见区：8 A (Lambda 850/950) 
6 A (Lambda 650) 
（仪器的线性范围由仪器的杂散光大小决定，相同的杂散光决定了相同的线性范围！） 
从而允许用户在所要求和需要的精度下进行低透射和反射样品的测量 

5、仪器的标准配置功能强大： 
通过软件控制的光束使小样品的测试*问题； 
软件控制的参比及样品光束衰减器使仪器“几乎能测到样品的*后一个光子”（不增加费用、不占用样品仓的空间）； 
不用平滑原始数据即可得到*佳的信噪比（高性能的光电倍增管R6872型比R928型的灵敏度高4倍； 

6、提供整个产品的解决方案： 
可适合各种尺寸的样品──大样品采用*光学台（GPOB）进行测量； 
为用户提供技术解决方案──常规分析的能力，Q-COM（快速光学台模式变换） 
的概念（迅速更换与安装各种附件：如积分球、反 
射附件、*光学台…… 

*光学台（GPOB） Q-COM概念（快速光学台模式变换） 

可选的检测器可满足用户对于散射和浑浊样品测试的特殊需求──对于难测的样品可提供积分球的检测器； 

为用户提供软件的解决方案：UV WinLab软件功能强大，可提供专家模式(Expert mode)运行仪器，为用户提供*优的仪器参数（实验条件）还可提供特殊应用的数学运算、色度、建筑玻璃、防护玻璃、滤光片及数据库等的软件（高级光谱软件工具包ASSP）； 

7、可提供的附件*全： 
漫反射附件：60mm/150mm积分球、小样品点双锥型（漫反射）附件； 

150mm积分球 
直径1.5～2mm的小样品测试（如宝石） 

收集球：60mm积分球，可与镜反射附件和大角度透射测量时采用； 
镜反射附件：除常用的一系列固定角度与可变角/相对镜反射附件外，**新推出了: 
通用反射和透射测量附件URA 世界上*可在8～70度的角度内，185～3200 nm计算机软件多角度反射一次设定，自动控制连续变角度“空白-样品-空白-样品”循环，可对材料进行和相对镜面反射的测量。样品尺寸无限制！也可进行透射模式的测定。 

URA*的硬件与软件 
定向的相对镜反射/透射附件（可在1～80度的正负角度对材料进行透射或反射模式的高精度测量，包括起偏器及两个反射标准镜）； 

定向的VW型镜反射附件（可在8～80度的正负角度对镜材料进行透射或反射模式的高精度测量,包括激光准直及起偏器及两个反射标准镜）； 

双光栏附件（可校正检测器的非线性误差，从而提高仪器的线性范围及光度计精度）； 

起偏（振）器和消偏（振）器： 
*光学台（GPOB）：*的多功能样品台,用于大样品或成品的测试（如大的激光晶体、望远镜透镜、照相机镜头、汽车玻璃等） 

光纤附件： 
用于滤光片及半导体晶片的大型测量工具 
蠕动泵吸液器 
多池支架 
线性传输和凝胶（薄膜、滤光片）扫描附件（可选配与之配套的狭缝调节附件，用于改变样品与参比光束的大小） 

8、应用领域极广： 
光学、涂层、色度、材料、玻璃、生物技术、药物、交通、通讯