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致茂Chroma 3280Test-In-Tray 测试分类机
主要特色:
Chroma 3280采用创新的技术整合SD卡测试机与 自动分类机的功能,并利用Test-In-Tray的技术来 达到大量平行测试的能力。透过支援SD资料传 输协定(SD Protocol Aware)与提供特定DC参数测 试的功能,3280为所有的SD卡类产品带来了一 个创新的测试方法,而这高效率的测试方法也为 客户带来大幅降低生产成本的好处。此外,小机 台的设计更可节省机台于测试厂之占地面积。
对于低价的消费性产品而言,即使在生产成本上 仅有些微的差距,制造商也会极为敏感。而这样 的特性往往是此类消费性产品在成品测试中之一 大挑战。对于SD卡类产品而言,为了能够降低 生产的成本,SD卡类制造商了解在SD卡的制程 中必须采用Known Good Die(KGD)来进行生产。 其主要的原因,乃是因为采用KGD生产的SD卡类 产品,将可减少在成品测试中对于测试项目的要 求,只需针对成品封装过程中所可能产生的瑕疵 进行检测,而不需要再对整个晶片进行完整的测 试。
Chroma 3280整合了测试机台与自动分类机的功 能,并采用创新的设计,满足采用KGD生产的SD 卡类产品的测试需求,不论是在机台的成本或是 体积上,都比传统的测试机台来的大幅降低,因 此也就能够相对地大幅降低测试的成本。
Test-In-Tray : 乃是将待测物置于IC托盘中直接测 试的测试方式。利用这样的测试方法,可以大幅 节省传统的测试方法因自动分类机在进行测试 时,必须以机器手臂夹取每个待测元件所需花取 的索引时间。因此,提供了一个蕞有效率的测试 方法。在Chroma 3280中,对于120个SD卡进行测 试时所需花费的索引时间大约只有10秒钟。
高平行测试能力 : Chroma 3280配备了一个专属 的SD卡测试机巢 (Test Hive),此一测试机巢提供 了能够同时测试120个micro SD卡的测试能力。
仅移除SD卡测试坏品 : 由于3280使用置于盘中 直接测试(Test-In-Tray)以及SD卡有着高良率的特 性,3280采取仅从整盘的SD卡中移除于测试过 程中所侦测到的瑕疵品到废品盘内,同时再从预 先准备好的补充盘中夹取已测试过的良品来补足 目前测试盘中被移除的坏品,而将目前的测试盘 填满成一完整的良品,并送至完测区。假设若以 98%的测试良率而言,每次仅需从测试盘中移除 2到3个坏品。因此,在进行好坏品分类中平均 所花的时间将小于测试所花的时间,不须要等候 分类工作完成后才能进行下一次的测试,也使得 整体的测试时间更有效率。
Firecracker II的电路设计与装置于3280测试机巢 (Test Hive)中的测试模组其电路设计*一样。 对于3280的使用者而言,Firecracker II是一个相 当方便的工具。它能够使得使用者在与3280离线 的状态下,用来产生或测试其测试程式。透过多 样化转接介面的设计,使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待测物,而将其右边的USB介面可插入电脑的 USB插槽,配合Firecracker II所提供的软体程式, 使用者将可进行直接的测试或是除错等工作。
SD Protocol Aware Tests
DC Measurements
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Model | Description | 询价 |
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3280 | Test-In-Tray 测试分类机 |
致茂Chroma 3280Test-In-Tray 测试分类机