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艾诺Ainuo AN8072汽车*控制盒测试系统
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致茂Chroma 3110 双用单站测试分类机
主要特色:
3110 是一台双用单站的 Pick & Place 测试分类 机,支援各种不同类型封装的晶片,如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 类机运用 Pick & Place 技术, 将待测晶片由进料舱 移至测试区,再依测试结果进行分类。3110 不 但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测 试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试 系统上的所有测试程式,旨在提供一个*的解 决方案。
支援的晶片尺寸从 3x3mm 到 55x55mm,配备有 自动进出料分类舱及手动分类盘,可蕞优化工程 测试的实验数量。简易操作的操控画面,及适配 性高的testers连接介面,大幅提升机台的使用率 及共用性。除此之外,它能针对不同的测试环境 条件,提供数个温控系统的选择,如三温控制系 统、高功率冷却系统等,测试的环境温度可设置 于常温、高温或低温。
三温变温控制
主动热控模组 (ATC)
高解热温控模组 (PTC)
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Model | Description | 询价 |
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3110 | 双用单站测试分类机 |
致茂Chroma 3110 双用单站测试分类机