致茂Chroma 3110 双用单站测试分类机

3110致茂Chroma 3110 双用单站测试分类机

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2022-05-25 07:50:02
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产品简介

致茂Chroma 3110 双用单站测试分类机
雙用單站測試分類機
適用於終端測試或系統功能測試
自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能
測頭內建氣室,可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
智能型的載盤IC殘留偵測
可選配的三溫控制系統 (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃)
可選配的高功率冷卻系統
理想的產品工程或研發實驗設備機

详细介绍

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致茂Chroma 3110 双用单站测试分类机

主要特色:

3110 是一台双用单站的 Pick & Place 测试分类 机,支援各种不同类型封装的晶片,如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 类机运用 Pick & Place 技术, 将待测晶片由进料舱 移至测试区,再依测试结果进行分类。3110 不 但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测 试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试 系统上的所有测试程式,旨在提供一个*的解 决方案。

支援的晶片尺寸从 3x3mm 到 55x55mm,配备有 自动进出料分类舱及手动分类盘,可蕞化工程 测试的实验数量。简易操作的操控画面,及适配 性高的testers连接介面,大幅提升机台的使用率 及共用性。除此之外,它能针对不同的测试环境 条件,提供数个温控系统的选择,如三温控制系 统、高功率冷却系统等,测试的环境温度可设置 于常温、高温或低温。

温控解决方案

三温变温控制

主动热控模组 (ATC)

高解热温控模组 (PTC)

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3110双用单站测试分类机

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