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致茂Chroma 58620 激光半导体特性测试机

主要特色：

• 全自动化检测边射型激光半导体芯片
• 高精密及高容量载具设计
• 自动光纤耦合测试对位设计(Auto-alignment)
• AOI辅助定位，加速测试时间
• 共用载具设计可搭配烧机测试
• 高精密TEC温度控制，稳定度达0.01℃
• 搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
• 软体分析激光特性: 
  Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等

激光二极管为高科技产品，价格不斐，多数使用于光通讯/ 医疗/ 国防等领域，并与人类社会息息相关。传统的激光二极管因价格高昂，可靠性要求程度*，需要大量的人工与时间来进行光路调整(Alignment) 测试与封装后的检测。

致茂58620 为一全新概念机种，专为激光二极管(Laser Diode) 所打造设计，搭配自动化特性检测All-In-One 设计概念，可供不同的测试项目同时进行检测；搭配高容量的载具设计，可供多颗激光芯片(Chip level) 进行大量测试；另外藉由光学定位辅助(AOI)，可提升自动化检测的速度与可靠性；高稳定性的温控平台设计，可让研发人员精确地了解激光二极管特性与温度的关系。

共享载具

Chroma 58620 藉由多年在半导体IC 测试的经验与技术，发展共享载具与更换治具等概念并应用于激光二极管产业。传统在激光二极管前段测试过程中，需经过多次的老化测试(Burn-In) 与特性检测制程(Characterization)，在更换载具的过程中常会损坏待测物减低良率，共享载具的好处可让研发或操作员只需要在D一次将激光二极管放置于载具中，即可在不接触待测物之下完成所有必要的检测，此设计亦可搭配Chroma 58601 老化测试机。然而，激光二极管的形式(Form Factor) 于各家设计皆有所不同，而58620 更换治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二极管的封装形式进行修改后即马上可进行量测，目前可使用的形式为 Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar 等。

自动对焦系统与光学辅助定位

激光二极管有一大部分的应用于光通讯与电信工业的范畴内，如光收发器(Transceiver) 等产品在组装前若能了解每颗激光二极管的特性或与直接测试光纤的耦合后的特性，能减低产品的失败率。Chroma 58620 测试系统中含有自动对焦系统(Auto alignment)，可搭配不同种类的光纤与Focuser 进行激光光大功率点耦合并测试，当激光光达一定程度的耦合效率时，系统搭配光谱分析仪(OSA) 进行分析了解激光二极管共振膜态，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波长分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光学辅助定位的原理(AOI) 使得Focuser 快速达到激光发光区(Emission Region) 并进行搜寻大发射功率点可加速测试，大幅减低光纤耦合调校时间与测试人力。

▲自动对焦系统与光学辅助定位

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致茂Chroma 58620 激光半导体特性测试机