产品简介：

  SHJS-A高压介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。介损测试仪淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗*力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代抗干扰介质损耗测试仪。

技术指标:

1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）

2、相对湿度：20%～80%

3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz

4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm

5、重量：18kg

6、输出功率：1.5KVA

7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

9、测量范围：内接试验电压：

       tgδ：99.9%

        Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

        10KV  Cx＜60000 pF

        5KV   Cx＜80000 pF

        2.5KV  Cx＜0.3uF

    外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定

10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09% 

    电容容量（Cx）：1.5%±1pF

11、分辨率： tgδ：0.01%   Cx ：0.1pF

介质损耗测试仪工作原理:

仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路，如图所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并算出被测试品电容容值（CX）和介质损耗（tgδ）。

数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳接地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、精确、可靠。

产品别称：

   智能介质损耗测试仪、变频介质损耗测试仪、介损测试仪、抗干扰介损测试仪、全自动介损测试仪、异频介损测试仪、异频介质损耗测试仪、抗干扰介质损耗测试仪、全自动介质损耗测试仪、变频抗干扰介质损耗测试仪。