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日本ETAC爱泰克导通可靠性评价装置MLR22/MLR22mini
在设定的温湿度环境中,在通电的状态下,对样品的导通电阻值进行
连续测试的系统。即,样品边做温度循环试验,边测试其导通电阻值。
导通特性与部件的特性及产品的可靠动作直接相关,是可靠性评价的
重要指标。
以BGA/CSP为代表的高密度封装部件,因为集成块和基板的热膨胀系
数不同,在焊接点处产生应力集中。结果将会发生接点破裂。试验槽
内微电阻测试法,就是将这破裂发生时的时间和低温、高温下的电阻
值正确地测试出来。这与过去的手动测试法比较,通过全自动测试,
给出统计解析结果,使测试效率大大提高。
日本ETAC爱泰克导通可靠性评价装置MLR22/MLR22mini
1) 热疲劳状态下,BGA的接合可靠性评价
2) 继电器接点处的接合可靠性评价
3)热疲劳状态下,SMD的接合可靠性评价
日本ETAC爱泰克MLR22/MLR22mini
1)万用表或低电阻测试方法:离线(常温)测试结果的不可信性;不连续性;不准确性。
2)导通可靠性评价系统测试方法:在线(设定环境)测试结果的可信性;连续性;准确性。
1)1台电脑可实现对MLR22主机和冷热冲击箱的控制及管理
2)拥有8个控制板,每个控制板拥有32个测试通道,合计256 测试通道。
3)具有加载AC/DC(共用)两种电阻测试方式
4)电阻值测试范围:0.1μΩ~2kΩ
5)电阻值测试精度:0.4%FS
6)可对其他厂家生产的温度试验槽进行控制及管理
【主要用途】
■评价BGA、CSP焊锡球的接合可靠性 ■评价微型接插件的晶须
■测试二极管等有极性部件的电压或电阻 ■评价接插件、开关的可靠性
■与温度循环试验器或热冲击试验器组合,评价无铅焊料的可靠性 ■评价车载用部件的导通可靠性