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HIOKI将在7月中旬发售阻抗分析仪IM3570,1阻抗分析仪IM357即可进行LCR、DCR测量和扫描测量。而且和HIOKI以往的LCR测试仪相比，阻抗分析仪IM357大幅缩短了测量时间，进一步提高了测量精度。 1台阻抗分析仪IM357即可满足不同测试条件下的高速检查
阻抗分析仪IM357将用于线圈、电容、压电元件等电子零部件生产线上的检查，另外还适用于大学和企业研究部门的开发方面。
阻抗分析仪是以让测量频率和测量电压连续变化的同时，扫描测量被测物的特性为主要功能。可用于如线圈、变压器、电容、压电元件的开发和检查等用途中。因此，阻抗分析仪对于复苏中的电子零部件市场，可以说是不可欠缺的测量仪器。
※阻抗：交流电路中电流不容易流通的程度。单位为Ω。
| 测量模式 | LCR模式：单一条件下测量 分析仪模式： 根据测量频率、测量电平进行扫描 （测量点：1~801，扫描方法：一般扫描/分区扫描，显示：列表显示/图表显示） 连续测量模式： 连续测量保存的条件（zui多32个） |
| 测量参数 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 测量量程 | 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数都根据Z来确定） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 测量频率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） |
| 测量信号电平 | 普通模式： V模式、CV模式：5mV~5Vrms（1MHz以下）， 10mV~1Vrms（1MHz~5MHz），1mVrms步进 CC模式：10μA~50mArms（1MHz以下） 10μA~10mArms（1MHz~5MHz），10μArms步进 低阻抗高精度模式： V模式、CV模式：5mV~1Vrms（100kHz以下）， 1mVrms步进 CC模式：10μA~100mArms（100kHz以下的100mΩ和1Ω量程）， 10μArms步进 |
| 输出阻抗 | 普通模式：100Ω 低阻抗高精度模式：10Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示开或关 |
| 显示位数设置 | 可设置3~7位的显示位数，初始值为6位 |
| 测量时间 | 0.5ms（100kHz、FAST、显示关，代表值） |
| 测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| DC偏压测量 | 普通模式：DC0V~2.50V（10mV步进） 低阻抗高精度模式：DC0V~1.00V（10mV步进） |
| 直流电阻测量 | 普通模式：测量信号电平 DC100mV~2.5V（10mV步进） 低阻抗高精度模式：测量信号电平 DC100mV~1.00V（10mV步进） |
| 比较器 | LCR模式：第1、第3项目的Hi/IN/Lo 分析模式： 区域判断（各点的Hi/IN/Lo）、 峰值判断（*、极小的频率和值的Hi/IN/Lo） |
| 存储功能 | 主机可保存32000个数据 |
| 接口 | EXT I/O（handler） RS-232C GP-IB USB（Hi-Speed/Full-Speed） U盘 LAN（10BASE-T/100BASE-TX） |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，zui大150VA |
| 体积和质量 | 约330W×119H×307Dmm，约5.8kg |
IM3570阻抗分析仪主要销售对象
