光束取样衰减器是专业为激光光束取样测量诊断而设计的激光衰减器件,光束采样器,光束取样器,激光采样器,激光取样器,利用镀膜表面两正交光楔的菲涅耳反射消除了约0.09%的入射光束，保留取样光束的光强分布和偏振，非常适合连续波或脉冲激光器的光束采样,适合光束直径可达15mm,激光功率范围是10mW- 40W。
光束取样衰减器典型用
激光光束质量分析
通过CCD相机或光电探测器探测激光
应用Shack Hartmann传感器进行波前测量
使用OSA测量光谱等
超短激光脉冲取样

 光束取样衰减器，如10CWA168可以与10PMA-1 结合使用，提供额外的精密衰减。

光束取样衰减器包括无镀膜的红外硅302光楔，可以修改以满足特定的应用要求。光楔有多种材料，固定波长AR以及BBAR镀膜、机械适配器，根据要求安装顾客的设置，使装置可用。
光束取样衰减器工作原理：
光束取样衰减器有四个接口分别是“input”、“sampled  beam ”、“residual beam ”和“port 4”。输入接口的与平面光轴正交的入射光束以45弧度角入射在*楔前平板表面，部分反射到（反射系数取决于入射光束的偏振状态，但不超过0.1）第二楔。当第二入射平板与*平板正交时，入射角依然是45弧度（现在s偏振变成P偏振，反之亦然）。后者发生后，采样光束的偏振状态与入射光束的一样，并消除了初始光束偏振波动引起的功率不稳定的可能性。采样光束从采样光束口射出，其光轴横向偏移15mm，与入射光束的光轴成90弧度角。
超过90%的入射光束透过光束取样衰减器，所以要将合适的光束倾倒装置放在残余光束口后方，确保采样器的安全运行。发射光束的光轴与入射光束的光轴成约5弧度角。
光束取样衰减器特点
可以保持偏振态和光强分布
波前畸变可以忽略不计
激光输出功率的稳定性不会受到影响，
固定精确衰减（10^3）弱取决于波长 ，
适用于超短激光脉冲的衰减
光楔消除重像和多次反射干扰
激光级超高精度抛光反射表面不镀膜，可在较宽的波长范围和高损伤阈值条件下操作
在很宽的温度范围内，机械和光学特性稳定
坚固耐用，使用简单，免维护,*工作
与VOA兼容。
光束取样衰减器参数规格
 波长范围      0.4-2.5 µm
 平均衰减      103
 口径             17.5mm
 zui大光束直径       15mm
 光楔材料              UVFS
 折射率
    λ= 532 nm       1.460
    λ= 1064 nm     1.449