菲希尔X-RAY荧光测厚仪各种材料分析仪器
凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择的 X 射线仪器。
特性：
- X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
- 由于测量距离可以调节（zui大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
- 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试
- 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）
应用：
镀层厚度测量
- 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
- 电路板上较薄的导电层和/或隔离层
- 复杂几何形状产品上的镀层
- 铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
- 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
材料分析
