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FISCHERSCOPEB XAN310材料分析及镀层测厚仪
简介:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉显示测量值,重量%或%o,其他合金成分也会同时得出。
FISCHERSCOPE@-X-RAY系统有着出色的准确性和良好的*稳定性,这样就不需要经常校准仪器,节省时间和精力。由于采用了基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。
产品特点:
设计理念:
XAN 310是一款用户界面友好的台式测量仪器。紧凑型的设计使仪器轻量化并且只需要很小的空间。测量室的门并不是向上打开,而是向前。因此可以使用笔记本放置在仪器_上方进行操作,来节省更多的空间。样品定位简单便捷。X射线源和接收器都集成在仪器底部舱室中,因而样品的底部是实际被测量面,而样品本身则由一层透明的薄膜窗口托放在测量室中。
内置可变焦视频系统和定位十字线,可以方便、准确地定位测量位置。通过功能强大、界面友好的WinFTM@软件,可以在计算机上便捷地完成整个测量过程,以及测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。FISCHERSCOPE X-RAY XAN*DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准。
典型的应用领域有:
技术参数:
预期用途 | 能量色散X射线测量仪(ED XRF)用于分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。 |
元素范围 | 硫S(16)至铀U(92)–同时多达24种元素 |
重复性 | 对于金≤0.5‰,测量时间60秒 |
设计 | 台式单元,带有向上打开的罩 |
测量方向 | 自下而上 |
X射线管 | 带铍窗的微焦点钨管 |
高电压 | 3 steps:30 kV,40 kV,50 kV;大阳极电流:1 mA |
光圈(准直仪) | Ø 1 mm (39 mils), 可选Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils) |
测量点 | Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品(测量距离0毫米) |
我公司还经营世界的进口全新设备如:英国泰勒霍普森 (Taylor Hobson)、捷克吉尔斯派克 (gearSpect Group)、德国菲希尔 (Helmut Fischer)、德国EPK、荷兰InnovaTest、瑞士TRIMOS、美国奥林巴斯( Olympus)、美国雷泰( Raytek)等世界*厂家生产的粗糙度仪、圆柱齿轮测量仪、涂镀层测厚仪、各种硬度计、测高仪、超声波探伤仪、DO-2 K PC锥齿轮单面啮合测量仪等。欢迎在线留言或电询!!
相关型号:
X射线测厚仪 XAN 220 | X射线荧光分析仪 XAN 110 | 荧光镀层测厚仪XAN 250 |