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半导体材料PCT高压加速寿命老化箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。
半导体材料PCT高压加速寿命老化箱技术参数
型 号: | ZK-PCT-25L | ZK-PCT-35L | ZK-PCT-45L | ZK-PCT-65L |
内部尺寸(W×H×D)mm: | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ600×650 |
外箱尺寸(W×H×D)mm: | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
使用温度: | 121℃;132℃;(143℃特殊选用) | |||
使用湿度: | 100%RH饱和蒸气湿度 | |||
使用蒸气压力(压力): | 1个环境大气压 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2属于特殊规格) | |||
循环方式: | 水蒸气自然对流循环 | |||
安全保护装置: | 缺水保护,超压保护、 (具有自动/手动补水功能,自动泻压功能) | |||
配 件: | 不銹钢隔板两层 | |||
电 源: | AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz |
设备结构特征
1.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。
2.临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
3.圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。
4.不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准, 可防止试验中露滴水设计。
5.箱内压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,可延长packing寿命。
6.圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,内有大于常压时测试们会被反压保护。
7.实验开始前之真空动作可将原来箱内空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新这空气 (partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。